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价格:电议
所在地:上海
型号:
更新时间:2022-03-15
浏览次数:1339
公司地址:上海市嘉定区银龙路258弄9号楼
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张(先生) 销售经理
艾因蒂克作为多家知名无损检测设备供应商在中国地区的特约授权或代理,为中国用户提供了全方位的无损检测设备及解决方案。我们代理的品牌有:艾因蒂克PHASEYE FMC-64全聚焦超声波相控阵探伤仪64/128PR、奥林巴斯无损检测(Olympus NDT)、美国万睿视(VAREX,原VARIAN和PE)平板探测器及射线管头、瑞士COMET射线设备(包括德国YXLON便携式射线机)、法国EFER工业内窥镜、英国GAPGUN激光间隙测量仪、西班牙波控(WAVECONTROL)电磁强度测试仪EMF等设备的代理。
上海艾因蒂克销售工业X射线探伤机,万睿视(Varex)平板探测器(PaxScan® 1515DXT平板探测器、PaxScan®2520DX平板探测器、PaxScan®2530HE平板探测器、PaxScan® 1313DX平板探测器、DR-PaxScan®2530DX平板探测器、PaxScan® 1308DXT平板探测器、PaxScan®1308DX平板探测器、XRD1611平板探测器、XRD1621平板探测器、XRD1622平板探测器、XRD0822平板探测器、XRD3025平板探测器、XRD4343CT平板探测器、XRPad2 3025平板探测器、XRPad2 4336平板探测器)及直线加速器和X射线球管。
艾因蒂克PHASEYE FMC-64全聚焦超声波相控阵探伤仪64/128PR、超声波探伤仪(复合材料粘接检测仪Bo
探头线、探头、各种检测试块
测厚仪(MAGNA-MIKE 8600霍尔效应测厚仪、45MG超声波测厚仪、高级多功能超声波测厚仪38DL PLUS、经济型超声波测厚仪27MG、35RDC复合材料粘接检测仪、便携式MG2系列腐蚀测厚仪、超声波测厚仪DM5E、测厚仪CL5)
光谱分析仪(Vanta手持式XRF分析仪、DELTA Professional合金分析仪、DELTA Element分析仪)
工业视频内窥镜(EFER FLASH 900、 IPLEX NX、IPLEX GX/GT、IPLEX G Lite、IPLEX TX、IPLEX YS)、法国EFER紫外荧光内窥镜、磁粉探伤机、反差增强剂,渗透剂等磁粉渗透设备。
我公司维修以下超声波设备:26mg壁厚仪检测、售后维修27mg测厚仪、45MG测厚仪检修、38DL PLUS测厚仪操作手册、MAGNA-MIKE 8600测厚仪操作视频、DM5E测厚仪、CL5测厚仪、EPOCH XT探伤仪、售后维修EPOCH 600探伤仪、售后维修EPOCH LTC探伤仪、维修OmniScan MX2相控阵探伤仪、售后维修Ominscan SX相控阵探伤仪、售后维修Phasor相控阵探伤仪、售后维修EPOCH 1000探伤仪、售后维修USN60探伤仪、USM 36探伤仪、USMgo+探伤仪、epoch 6LT探伤仪、EPOCH 650探伤仪
涡流阵列仪器OmniScan MX ECA





涡流阵列仪器OmniScan MX ECA
涡流阵列技术
涡流阵列技术(ECA)以电子方式驱动同一个探头中多个相邻的涡流感应线圈,并解读来自这些感应线圈的信号。通过使用多路技术采集数据, 可避免不同线圈之间的互感。
OmniScan® ECA检测配置在桥式或发射-接收模式下可支持32个感应线圈(使用外部多路器可支持的感应线圈多达64个)。操作频率范围为20 Hz~6 MHz,并能选择在同一采集中使用多频。
涡流阵列的
同单通道涡流技术相比,涡流阵列技术具有下列:
· 检测时间大幅度降低。
· 单次扫查覆盖更大检测区域。
· 减小了机械和自动扫查系统的复杂性。
· 提供检测区域实时图像,便于数据的判读。
· 很好地适用于对那些具有复杂几何形状的部件的检测。
· 改进了检测的可靠性和检出率(POD)。
涡流阵列探头
Olympus NDT制造的R/D Tech® ECA探头可适用于广泛的应用领域。根据缺陷的不同类型或者被测工件的形状,可以设计出不同的探头。标准探头可检测如裂纹、点蚀等缺陷,以及多层结构中如裂纹及腐蚀等近表面的缺陷。
涡流阵列软件
简单的数据采集和分析显示
采集模式显示分析模式显示
C扫描视图中的数据采集,可快速有效地检测缺陷。
分析模式下的数据选择,可在阻抗图和带状图中浏览信号。
波幅、相位和位置测量。
可调彩色调色板。
大尺寸阻抗平面图和带状视图,与常规单通道ECT探头检测相适应。
校准向导
分步进行。
一组中的所有通道可被同时校准,每个通道各有自己的增益和旋转。
波幅和相位可以根据不同的参考缺陷设定。
报警
3个报警输出可将指示灯、蜂鸣器和TTL输出组合到一起。
可以在阻抗图中定义不同的报警区形状(扇形、长方形、环形等)。
自动探头识别和配置
探头被连接后,C扫描参数和多路器的顺序即可被自动设置。
频率范围保护可避免损坏探头。
分析模式下的求差工具
该功能可去除在相邻通道间的提离变化。
涡流阵列仪器OmniScan MX ECA
实时数据处理
采集模式显示分析模式显示
实时数据插值可以改进缺陷的空间显示。
使用两个频率,可生成一个MIX信号,以去除干扰信号(如:提离、紧固件信号等)。
数据处理可以选用高通、低通、中值和平均滤波器。下图为一个应用实例:在搭接处边缘检测出裂,因为该处厚度出现急剧的变化。经滤波的数据可以改进检测效果,特别是对小裂纹而言。
复合材料检测Olympus推出了一款新开发的粘接检测OmniScan解决方案:这无疑是复合材料检测行业中的一大进步。如今,使用便携式仪器获得易于判读的C扫描图像已经成为现实。这款OmniScan解决方案不仅可地适用于蜂窝结构复合材料的脱胶检测,还可以进行分层检测,且结果的程度与脱胶检测相比丝毫不差。虽然这个解决方案主要为航空航天工业的在役检测而设计,但是在包括汽车和船舶工业在内的制造业中也非常有用,如:针对复合材料船体的检测。
已经拥有了OmniScan ECA或ECT模块的用户只需订购标准的BondMaster探头(P14和SPO-5629)及BondMaster线缆,就可以使用这个解决方案完成检测应用。
我们特别为复合材料的检测开发定制了MXB软件。其新添的功能,如:向导和标准化,有助于保持操作的简洁性。
编码系统:可以使用任何双轴编码扫查器检测工件。Olympus提供两个选项:一个是可好地适用于扫查平面或稍有弯曲表面的GLIDER扫查器;另一个是WING扫查器,这款扫查器专门为扫查曲面工件而设计(如:航天飞机的机身),而且因其具有Venturi真空吸盘系统,甚至可以倒置进行操作。此外,装有步进点击器的手持式单轴编码扫查器也可以与这个系统兼容,从而加强了系统的多用性。
Olympus又一次创新了在屏幕上显示数据的方法。针对每个C扫描,操作人员可以有两个视图选择:一种是波幅C扫描,不会考虑相位情况,只基于信号的波幅而显示不同的颜色,这是一个可清晰、有效地探测脱胶缺陷的理想视图。另一种是相位C扫描,使用0°到360°的彩色调色板显示相位角的变化,有助于轻松辨别不同类型的缺陷指示,如:油灰填塞(修补)缺陷或分层缺陷。
技术规格
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涡流模块的技术规格 |
外型尺寸 (宽 x 高 x 厚) |
244毫米 x 182毫米 x 57毫米 |
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重量 |
1.2公斤(2.6磅) |
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接口 |
1个OmniScan®涡流阵列探头接口 |
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通道数量 |
32个通道,带内置多路转换器 |
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探头识别 |
自动探头识别和设置 |
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发生器 |
发生器数量 |
1个(带内置电子参考) |
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大电压 |
12 Vp-p,10 Ω |
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工作频率 |
20 Hz~6 MHz |
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带宽 |
8 Hz~5 kHz(单线圈中)。同时隙成反比例关系,并通过仪器在多路模式下设定。 |
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接收器 |
接收器数量 |
1个~4个 |
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大输入信号 |
1 Vp-p |
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增益 |
28 dB~68 dB |
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内置多路转换器 |
发生器数量 |
32个(8个时隙时,4个发生器同时工作;使用外部多路转换器时,多达64个) |
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大电压 |
12 Vp-p,50 Ω |
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接收器数量 |
4个差分接收器(每个8时隙) |
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大输入信号 |
1 Vp-p |
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数据采集 |
数字化频率 |
40 MHz |
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采集速率 |
1 Hz~15 kHz(单线圈中)。 速率可由仪器处理能力限制,或通过多路激发模式的延迟设定所限制。 |
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A/D分辨率 |
16比特 |
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数据处理 |
相位旋转 |
0°~360°,步距为0.1° |
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滤波 |
FIR低通、FIR高通、FIR带通、FIR带阻(截止频率可调)、中值滤波器(在2点~200点之间变化)、平均滤波器(在2点~200点之间变化 ) |
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通道处理 |
混合 |
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数据存储 |
大文件容量 |
取决于内部闪存空间:180 MB(或者300 MB,可选) |
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数据同步 |
按内部时钟 |
1 Hz~15 kHz(单线圈) |
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外部步速 |
有 |
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按编码器 |
单轴或双轴 |
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报警器 |
报警器数量 |
3个 |
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报警区域形状 |
扇形、倒置扇形、框形、倒置框形和环形 |
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输出类型 |
视频、音频以及TTL信号 |
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模拟输出 |
1个(X或Y) |
如有需要OLYMPUS 涡流阵列检测仪器OmniScan MX ECA/ETC,欢迎致电联系。
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