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  • 128.01 K      2013-07-30 09:29 GBT 2423.27-1981 电工电子产品基本环境试验规程 试验ZAMD低温低气压湿热连续综合试验
  • 210.57 K      2013-07-30 09:29 GBT 2423.26-1992 电工电子产品基本环境试验规程 试验ZBM高温低气压综合试验
  • 201.83 K      2013-07-30 09:29 GBT 2423.25-1992 电工电子产品基本环境试验规程 试验ZAM低温低气压综合试验
  • 176.47 K      2013-07-30 09:28 GBT 2423.24-1995 电工电子产品环境试验 第2部分试验 试验Sa模拟地面上的太阳辅射
  • 1.23 M      2013-07-30 09:26 GBT 2423.23-1995 电工电子产品环境试验 试验Q密封 [part1]
  • 437.29 K      2013-07-30 09:19 GBT 2423.22 2002 电工电子产品基本环境试验规程 试验N温度变化试验方法
  • 302.37 K      2013-07-30 09:19 GBT 2423.22-1987 电工电子产品基本环境试验规程 试验N温度变化试验方法
  • 106.78 K      2013-07-29 11:21 GBT 2423.21-1991 电工电子产品基本环境试验规程 试验M低气压试验方法
  • 140.33 K      2013-07-29 11:20 GBT 2423.20-1981 电工电子产品基本环境试验规程 试验Kd接触点和连接件的硫化氢试验方法
  • 144.95 K      2013-07-29 11:19 GBT 2423.19-1981 电工电子产品基本环境试验规程 试验Kc接触点和连接件的二氧化硫试验方法
  • 162.65 K      2013-07-29 11:18 GBT 2423.18-2000 电工电子产品环境试验 第2部分试验 试验Kb盐务,交变(氯化钠溶液)
  • 812.74 K      2013-07-29 11:17 GBT 2423.17-2008 电工电子产品基本环境试验规程 第2部分试验方法 试验Ka;盐雾试验方法
  • 105 K      2013-07-29 11:17 GBT 2423.17-1993 电工电子产品基本环境试验规程 第2部分试验方法 试验Ka;盐雾试验方法
  • 530.89 K      2013-07-29 11:17 GBT 2423.16-1999 电工电子产品环境试验 第2部分试验方法 试验J和导则长霉
  • 296.98 K      2013-07-29 11:16 GBT 2423.15-1995 电工电子产品环境试验 第2部分试验方法 试验Ga和导则稳态加速度
  • 444.22 K      2013-07-29 11:15 GBT 2423.14-1997 电工电子产品环境试验 第2部分试验方法 试验Fda 宽频带随机振动-低再现性
  • 804.52 K      2013-07-29 11:15 GBT 2423.13-1997 电工电子产品环境试验 第2部分试验方法 试验Fda 宽频带随机振动-中再现性
  • 841.65 K      2013-07-29 11:14 GBT 2423.12-1997 电工电子产品环境试验 第2部分试验方法 试验Fda 宽频带随机振动-高再现性
  • 635.01 K      2013-07-29 11:13 GBT 2423.11-1997 电工电子产品环境试验 第2部分试验方法 试验Fd宽频带随机振动-一般要求
  • 7.89 M      2013-07-29 11:13 GBT 2423.10-2008 电工电子产品环境试验 第2部分试验方法 试验Fc和导则振动(正弦)
  • 1.01 M      2013-07-29 11:12 GBT 2423.10-1995 电工电子产品环境试验 第2部分试验方法 试验Fc和导则振动(正弦)
  • 280.76 K      2013-07-29 11:11 GBT 2423.09-2001 电工电子产品基本环境试验规程 试验Cb设备用恒定湿热试验方法
  • 148.53 K      2013-07-29 11:11 GBT 2423.09-1989 电工电子产品基本环境试验规程 试验Cb设备用恒定湿热试验方法
  • 301.48 K      2013-07-29 11:10 GBT 2423.08-1995 电工电子产品环境试验 第2部分试验方法 试验Ed自由跌落
  • 237.15 K      2013-07-29 11:10 GBT 2423.07-1995 电工电子产品环境试验 第2部分试验方法 试验Ec和导则倾跌与翻倒(主要用于设备型样品)
  • 544.88 K      2013-07-29 11:09 GBT 2423.06-1995 电工电子产品环境试验 第2部分试验方法 试验Eb和导则碰撞
  • 892.5 K      2013-07-29 11:09 GBT 2423.05-1995 电工电子产品环境试验 第2部分试验方法 试验Ea和导则冲击
  • 1.36 M      2013-07-29 11:08 GBT 2423.04-2008 电工电子产品基本环境试验规程 试验Db交变湿热试验方法
  • 191.65 K      2013-07-29 11:08 GBT 2423.04-1993 电工电子产品基本环境试验规程 试验Db交变湿热试验方法
  • 392.26 K      2013-07-29 11:07 GBT 2423.03 2006 电工电子产品环境试验规程 试验A: 恒定湿热试验方法
  • 123.8 K      2013-07-29 11:07 GBT 2423.03-1993 电工电子产品基本环境试验规程 试验Ca恒定湿热试验方法
  • 595.71 K      2013-07-29 11:06 GBT 2423.02-2008 电工电子产品基本环境试验规程 试验B高温试验方法
  • 1.03 M      2013-07-29 11:06 GBT 2423.02-2001 电工电子产品基本环境试验规程 试验B高温试验方法
  • 744.12 K      2013-07-29 11:05 GBT 2423.02-1989 电工电子产品基本环境试验规程 试验B高温试验方法
  • 911.85 K      2013-07-29 11:05 GBT 2423.01 2001 电工电子产品基本环境试验规程 试验A低温试验方法
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