Olympus超声测厚仪38DL PLUS

Olympus超声测厚仪38DL PLUS既可与双晶探头一起使用，测量腐蚀的管道，也可与单晶探头一起使用对薄材料或多层材料进行为的厚度测量。

艾因蒂克作为多家知名无损检测设备供应商在中国地区的特约授权或代理，为中国用户提供了全方位的无损检测设备及解决方案。我们代理的品牌有：艾因蒂克PHASEYE FMC-64全聚焦超声波相控阵探伤仪64/128PR、奥林巴斯无损检测（Olympus NDT）、美国万睿视（VAREX，原VARIAN和PE）平板探测器及射线管头、瑞士COMET射线设备（包括德国YXLON便携式射线机）、法国EFER工业内窥镜、英国GAPGUN激光间隙测量仪、西班牙波控（WAVECONTROL）电磁强度测试仪EMF等设备的代理。

上海艾因蒂克销售工业X射线探伤机，万睿视（Varex）平板探测器（PaxScan® 1515DXT平板探测器、PaxScan®2520DX平板探测器、PaxScan®2530HE平板探测器、PaxScan® 1313DX平板探测器、DR-PaxScan®2530DX平板探测器、PaxScan® 1308DXT平板探测器、PaxScan®1308DX平板探测器、XRD1611平板探测器、XRD1621平板探测器、XRD1622平板探测器、XRD0822平板探测器、XRD3025平板探测器、XRD4343CT平板探测器、XRPad2 3025平板探测器、XRPad2 4336平板探测器）及直线加速器和X射线球管。

艾因蒂克PHASEYE FMC-64全聚焦超声波相控阵探伤仪64/128PR、超声波探伤仪（复合材料粘接检测仪BondMaster 1000e+、超声探伤仪EPOCH XT、超声探伤仪EPOCH 600、超声探伤仪EPOCH LTC、超声波TOFD相控阵OmniScan MX2、超声波相控阵OmniScan X3超声波TOFD相控阵Omniscan SX、超声探伤仪EPOCH 1000系列、超声波点焊检测系统USLT USB、超声波点焊检测仪SpotChecker、超声波相控阵点焊检测仪NEXTSPOT600、超声波相控阵点焊检测仪NEXTSPOT300、超声波探伤仪USN60、超声波探伤仪USM 36、便携式超声波探伤仪USM go+）

探头线、探头、各种检测试块

测厚仪（MAGNA-MIKE 8600霍尔效应测厚仪、45MG超声波测厚仪、高级多功能超声波测厚仪38DL PLUS、经济型超声波测厚仪27MG、35RDC复合材料粘接检测仪、便携式MG2系列腐蚀测厚仪、超声波测厚仪DM5E、测厚仪CL5）

光谱分析仪（Vanta手持式XRF分析仪、DELTA Professional合金分析仪、DELTA Element分析仪）

工业视频内窥镜（EFER FLASH 900、 IPLEX NX、IPLEX GX/GT、IPLEX G Lite、IPLEX TX、IPLEX YS）、法国EFER紫外荧光内窥镜、磁粉探伤机、反差增强剂，渗透剂等磁粉渗透设备。

我公司维修以下超声波设备：26mg壁厚仪检测、售后维修27mg测厚仪、45MG测厚仪检修、38DL PLUS测厚仪操作手册、MAGNA-MIKE 8600测厚仪操作视频、DM5E测厚仪、CL5测厚仪、EPOCH XT探伤仪、售后维修EPOCH 600探伤仪、售后维修EPOCH LTC探伤仪、维修OmniScan MX2相控阵探伤仪、售后维修Ominscan SX相控阵探伤仪、售后维修Phasor相控阵探伤仪、售后维修EPOCH 1000探伤仪、售后维修USN60探伤仪、USM 36探伤仪、USMgo+探伤仪、epoch 6LT探伤仪、EPOCH 650探伤仪

Olympus超声测厚仪38DL PLUS

性能、操作简便、坚固耐用、结果可靠

38DL PLUS测厚仪是一款超声测厚技术新时代的创仪器。这款手持式测厚仪可有效地适用于几乎各种超声测厚应用，而且与几乎各种双晶探头和单晶探头完全兼容。功能齐全的38DL PLUS测厚仪可用于各种应用，包括使用双晶探头对内壁腐蚀的管件进行的管壁减薄的测量，以及使用单晶探头对薄壁或多层材料进行的非常的壁厚测量。
Olympus超声测厚仪38DL PLUS：

Olympus超声测厚仪38DL PLUS测厚仪的标准配置带有很多性能强大又易于使用的测量功能，以及许多专用于某些特定应用的软件选项。其密封机壳的设计符合IP67评级要求，可以在非常潮湿或暴土扬沙的严酷环境中正常操作。其彩色透反VGA显示屏无论在明亮的阳光下还是在无光的黑暗中都具有非常好的可视性。测厚仪的键区非常简洁，且符合人体工程学的要求，操作人员使用单手（左手或右手）操控键区，就可以轻松访问仪器的所有功能。
Olympus 超声测厚仪（38DL PLUS）:

主要特性

· 可与双晶探头和单晶探头兼容

· 宽泛的厚度测量范围：0.08毫米到635毫米，具体可测厚度根据材料和所选探头而定

· 使用双晶探头进行腐蚀测厚操作

· 穿透涂层（THRU-COAT）和回波到回波测量功能，用于测量表面带有漆层和涂层的材料

· 内部氧化层/沉积物软件选项

· 对于所有探头，标准分辨率为0.01毫米

· 在使用频率范围为2.25 MHz ～ 30 MHz的单晶探头时，高分辨率软件选项可进行分辨率为0.001毫米的厚度测量

· 多层软件选项可同时对多层材料的各层进行厚度测量，多可同时测量4层

· 高穿透软件选项用于测量玻璃纤维、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料

· 厚度、声速和渡越时间的测量

· 差分模式和缩减率模式

· 时基B扫描模式；每次扫查可获得10000个可回顾的读数

· 带有数字式滤波器的奥林巴斯高动态增益技术

· 用于自定义V声程补偿的V声程创建功能

· 设计符合EN15317标准

38-link无线通信适配器

可选配的38-link适配器，通过蓝牙（Bluetooth）技术或无线局域网连接方式，可以使操作人员在任何现有的38DL PLUS仪器和其它设备之间传送和接收数据。

38-link适配器具有3种强大的无线通讯能力：

· 与奥林巴斯科学云系统（OSC）进行无线通信

· 通过蓝牙技术与奥林巴斯链接移动应用程序或其他相兼容的第三方应用程序进行通信

· 通过蓝牙技术与可选配的link-Wedge软件进行通信，以直接将厚度读数发送到运行Windows 10的PC机中的激活的Windows应用程序中。

技术规格

测量	双晶探头测量模式	从激励脉冲后的延时到个回波之间的时间间隔。
	穿透涂层测量模式	利用单个底面回波（使用D7906-SM和D7908探头），测量金属的实际厚度和涂层厚度。
	穿透漆层回波到回波测量模式	在两个连续底面回波之间的时间间隔，不计漆层或涂层的厚度。
	单晶探头测量模式	模式1：激励脉冲与个底面回波之间的时间间隔。 模式2：延迟线回波与个底面回波之间的时间间隔（使用延迟线式或水浸式探头）。 模式3：在激励脉冲之后，位于个表面回波后的相邻底面回波之间的时间间隔（使用延迟线式或水浸式探头）。 氧化层模式：可选。 多层模式：可选。
	厚度范围	0.080毫米～635.00毫米，视材料、探头表面条件、温度和所选配置而定。
	材料声速范围	0.508 mm/μs～13.998 mm/μs
	分辨率（可选择）	低分辨率：0.1毫米 标准分辨率：0.01毫米 高分辨率（可选项）：0.001毫米
	探头频率范围	标准：2.0 MHz～30 MHz（-3 dB） 高穿透（可选项）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB）
一般规格	工作温度范围	-10°C～50°C
	键区	密封、以色彩区分功能的键盘，带有触感及声音反馈。
	机壳	防撞击、防水、装有密封垫的机壳；机壳上的接口密封。设计符合IP67标准。
	外型尺寸（宽 x 高 x 厚）	总体尺寸：125毫米x211毫米x46毫米
	重量	0.814公斤
	电源	AC/DC适配器，24 V；锂离子电池，23.760 Wh；或4节AA辅助电池。
	锂离子电池供电时间	工作时间：少12.6小时，一般14小时，多14.7小时。快速充电：2小时到3小时。
	标准	设计符合EN15317标准。
显示	彩色透反VGA显示	液晶显示，显示屏尺寸：56.16毫米 X 74.88毫米
	检波	全波、RF波、正半波、负半波
输入/输出	USB	1.0从接口。
	RS-232	有。
	存储卡	大容量：2 GB外置microSD存储卡。
	视频输出	VGA输出标准。
内置数据记录器	数据记录器	38DL PLUS通过标准RS-232串口或USB端口识别、存储、回放、清除、传输厚度读数、波形图像和仪器配置信息。
	容量	475000个厚度测量读数，或20000个带厚度值的波形。
	文件名称、ID编码及注释	32位字符的文件名，20位字符的字母数字位码，每个位有四个注释。
	文件结构	9个标准的或自定义的用于特定应用的文件结构。
	报告	机载报告总结了数据统计、带有位置信息的小值/大值、小值回顾、文件比较及报警报告。

如有需要Olympus 超声测厚仪（38DL PLUS）欢迎致电联系，将为您提供专业的技术交流演示和配置方案。

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