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3d显微镜失效分析样品外观、形貌检测

仪准科技（北京）有限公司

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所在地：北京

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更新时间：2023-11-10

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公司地址：北京市中关村软件园

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产品简介

3d显微镜失效分析样品外观、形貌检测样品分析拍照

IC失效分析 Decap，X-RAY，IV，EMMI，FIB，SEM，EDX，Probe，OM，RIE

专业从事电子产品分析测试设备研发、生产、销售，以及国外**设备代理,探针台probe 开封机decap 微光显微镜emmi 红外显微镜 iv自动曲线量测仪失效分析可靠性测试FIB,切割研磨机rie，电子显微镜sem等

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主要用途

样品外观、形貌检测。

性能参数

a)采用Telescope(CMO)全消色差光学设计，可以提供高分辨率、大景深的3D图象；

b)放大倍率：7.5x - 150x，zui大工作距离

60mm，视场范围为1.5-30.7mm；

a)zui高分辨率不小于1512LP/mm；

b)具备记录光口，可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式

应用范围

主要应用于制备样片的观察分析及封装开帽后的检查分析。

本页产品地址：http://www.geilan.com/sell/show-7904499.html

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