您所在的位置: 给览网 » 供应 » 实验室常用设备 » 其他实验室常用设备 » FIB聚焦离子束芯片的电路修改断面切割透射电镜样品制备

FIB聚焦离子束芯片的电路修改断面切割透射电镜样品制备

仪准科技（北京）有限公司

会员指数：

企业认证：

价格：电议

所在地：北京

型号：

更新时间：2023-11-10

浏览次数：1457

公司地址：北京市中关村软件园

13488683602 sunny(先生)

点击查看联系电话在线询价

产品简介

FIB聚焦离子束芯片的电路修改断面切割透射电镜样品制备芯片电路设计1.定点切割2.穿透式电子显微镜试片3.IC线路修补和布局验证4.制程上异常观察分析5.晶相特性观察分析6.故障位置定位用被动电压反差分析

公司简介

IC失效分析 Decap，X-RAY，IV，EMMI，FIB，SEM，EDX，Probe，OM，RIE

专业从事电子产品分析测试设备研发、生产、销售，以及国外**设备代理,探针台probe 开封机decap 微光显微镜emmi 红外显微镜 iv自动曲线量测仪失效分析可靠性测试FIB,切割研磨机rie，电子显微镜sem等

展开

产品说明

FIB聚焦离子束芯片的电路修改断面切割透射电镜样品制备芯片电路设计

主要用途

芯片的电路修补、断面切割、透射电镜样品制备。

性能参数

a)着陆电压范围 - 电子束：350V~30kV

- 离子束：500V~30kV

b)zui小分辨率 - 电子束：0.8nm/30kV

- 离子束：2.5nm/30kV

c)全新的差分抽取及TOF校正功能，可实现更高分辨率的离子束成像、磨削和沉积

应用范围

1.定点切割

2.穿透式电子显微镜试片

3.IC线路修补和布局验证

4.制程上异常观察分析

5.晶相特性观察分析

6.故障位置定位用被动电压反差分析

本页产品地址：http://www.geilan.com/sell/show-7904142.html

免责声明：以上所展示的[ FIB聚焦离子束芯片的电路修改断面切割透射电镜样品制备]信息由会员[仪准科技（北京）有限公司]自行提供，内容的真实性、准确性和合法性由发布会员负责。
[给览网]对此不承担任何责任。
友情提醒：为规避购买风险，建议您在购买相关产品前务必确认供应商资质及产品质量！