产品简介
切割研磨机,金相制样,研磨去层,ic反向失效分析芯片测试 主要应用在芯片工艺分析,失效点的查找及芯片剥层等方面的样片制备。该设备可以对样片进行冷埋注塑、切割、精细研磨及抛光。
公司简介
IC失效分析 Decap,X-RAY,IV,EMMI,FIB,SEM,EDX,Probe,OM,RIE
专业从事电子产品分析测试设备研发、生产、销售,以及国外**设备代理,探针台probe 开封机decap 微光显微镜emmi 红外显微镜 iv自动曲线量测仪 失效分析可靠性测试FIB,切割研磨机rie,电子显微镜sem等
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产品说明
切割研磨机,金相制样,研磨去层,ic反向失效分析芯片测试




主要用途
样品切割、断面精细研磨及抛光
性能参数
1、切割机:
a)切割转速:100-975rpm;
b)锯片尺寸: zui大为178毫米,zui大切割尺寸:38mm;
2、研磨机:
a)无级调速直流马达,恒定的转数和扭矩;
b)磨抛头可实现半自动磨抛;
c)应用磁性盘系统, 可方便快捷更换不同粒度砂纸/磨盘/抛光布;
d)磨盘直径:200mm或250mm;
e)磨盘转速:10-500 转/分钟;
应用范围
主要应用在芯片工艺分析,失效点的查找及芯片剥层等方面的样片制备。该设备可以对样片进行冷埋注塑、切割、精细研磨及抛光。
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