A系列 美国博曼XRF镀层测厚仪

美国博曼XRF镀层测厚仪A 系列微型 XRF 专为精确测量半导体和微电子领域中最小的 X 射线特征而设计。

深圳市鼎极天电子有限公司 位于深圳宝安, 主要经销的分析仪器与设备.

我司是美国博曼 (Bowman) 测厚仪中国华南区总经销，拥有专业的销售及维修工程师，专注于BA-100系列测厚仪在国内的销售与维护。为各地的电路板（PCB、FPC）、LED、SMD、半导体、连接器、端子、紧固件、汽车、五金等制造厂商及高校，科研机构，质量检测中心等广大客户提供快捷、良好的售前及售后服务和技术支持。

实验室测试设备:各种实验室测试设备,我们配套供应.
如有任何需要请联络我公司，我们将为你提供快速优质的服务。

半导体、连接器、PCB 上的极小特征
大型PCB面板
任何尺寸的晶圆
每秒处理超过 2 万个计数的能力
可编程 XY 平台，每个方向移动 23.6 英寸
3D 映射能力
美国博曼XRF镀层测厚仪符合 IPC-4552 A/B、4553A、4554 和 4556、ASTM B568、DIN 50987 和 ISO 3497
洁净室就绪

Bowman 的 A 系列使用多毛细管光学器件将 X 射线束聚焦到 7.5 μm FWHM，这是使用 XRF 仪器进行涂层厚度分析的世界上最小的。 140X 放大相机用于测量该比例的特征； 它配有一个辅助低放大倍率相机，用于实时查看样品和鸟瞰宏观视图成像。 Bowman 的双摄像头系统让操作员可以看到整个零件，单击图像以使用高倍率摄像头进行缩放，并精确定位要编程和测量的特征。可编程 XY 平台在每个方向上移动 23.6 英寸（600 毫米），可以处理
业内最大的样本。 该平台的每个轴的精度小于 +/- 1 μm，并且是
用于选择和测量多个点； Bowman 模式识别软件和自动对焦
功能也会自动执行此操作。 该系统的内置模式识别可用于查看零件（例如硅晶片）上涂层的形貌。


美国博曼XRF镀层测厚仪产品规格
机型对比
元素测量范围： 13号铝元素 到 92号铀元素
X射线管： 50 W Mo 目标 Flex-Beam 毛细管光学元件 @7.5 FWHM 可选：Cr 或 W
探测器： 优于135eV分辨率的大窗口硅漂移探测器
分析层数
及元素数： 5 层（4 层 + 基础），每层 10 个元素。 同时分析多达 25 种元素的成分
滤波器/准直器： 4位置一次滤波器
焦距： 固定为0.02英寸（0.5毫米）
数字脉冲处理： 具有灵活整形时间的 4096 CH 数字多通道分析仪。 自动信号处理，包括死区时间校正和逃逸峰校正
计算机： Intel，CORE i5 第 9 代处理器 (4.1 GHz)，16GB RAM，Microsoft Windows 10 Prof，64 位
相机： 1/4″ CMOS-1280×720 VGA分辨率
视频放大倍率： 140X Micro & 7X Digital Zoom: 9X Macro & Table View
电源： 720W，100〜240V; 频率范围为47Hz到63Hz
重量： 1000kg（2200磅）
工作环境： 温度介于68°F（20°C）与77°F（25°C）之间，相对湿度小于98％，无冷凝
可编程XYZ平台： XYZ行程：600毫米（23.6英寸）x 600毫米（23.6英寸）x 100毫米（3.9英寸）
XY桌面：560mm（22“）x 585mm（23”）
X & Y 轴精度：1um (40u”)
Z轴精度：1um (40u”)
样品仓尺寸： 宽度：1400 毫米（55 英寸），深度：1470 毫米（58 英寸），高度：100 毫米（4 英寸）
外形尺寸： 宽度：1470 毫米（58 英寸），深度：1575 毫米（62 英寸），高度：1780 毫米（70 英寸）
其他新特征： Z 保护阵列、自动对焦、聚焦激光、图案识别、Semi S2 S8 兼容就绪





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