BA-100 膜厚仪 美国博曼BA-100-G膜厚测量仪

膜厚仪 美国博曼BA-100-G膜厚测量仪 是一款高的仪器，专用于五金、线路板行业测量金属镀层厚度，如：金、镍、银、钯、锡、锌、铜等金属厚度。G系列标准配置包括一个固定准直器，一个固定焦距的相机，固态PIN探测器和质量可靠的微聚焦X射线管。与其他型号一样，该型号也可升级为包括多个准直器，可变焦点相机和SDD探测

深圳市鼎极天电子有限公司 位于深圳宝安, 主要经销的分析仪器与设备.

我司是美国博曼 (Bowman) 测厚仪中国华南区总经销，拥有专业的销售及维修工程师，专注于BA-100系列测厚仪在国内的销售与维护。为各地的电路板（PCB、FPC）、LED、SMD、半导体、连接器、端子、紧固件、汽车、五金等制造厂商及高校，科研机构，质量检测中心等广大客户提供快捷、良好的售前及售后服务和技术支持。

实验室测试设备:各种实验室测试设备,我们配套供应.
如有任何需要请联络我公司，我们将为你提供快速优质的服务。

膜厚仪 美国博曼BA-100-G膜厚测量仪 ，两个显着的特征是视频成像，以及使用电动Z轴和基于激光的自动对焦的“自下而上”测量。 后者是Bowman独有的特征。 一个可用的手动XY平台，带有1.5 X 1.5“行程，便于小型和大型零件的定位。 与其他型号相比，腔室相对较小 B系列。 较小的腔室和占地面积非常适合珠宝和其他贵金属分析应用，以及连接器和紧固件等组件。
膜厚仪 美国博曼BA-100-G膜厚测量仪 XRF是实验室和生产线的理想选择，特别是在用户拥有：
预留摆放空间小
预算有限
优先使用电动Z轴进行“自下而上”操作
需要快速，轻松地定位较小的样品
ASTM B568，DIN 50987和ISO 3497


膜厚仪 美国博曼BA-100-G膜厚测量仪 产品规格

元素测量范围：	13号铝元素 到 92号铀元素
X射线管：	50 W（50kV和1mA）微聚焦钨钯射线管
探测器：	190eV及以上分辨率的Si-PIN固态探测器
分析层数 及元素数：	5层（4层+基材） 每层可分析10种元素，成分分析多可分析25种元素
滤波器/准直器：	4主过滤器/单准直器（可选双）
焦距：	单个固定焦深，激光和自动对焦
数字脉冲处理：	4096 多通道数字处理器，自动死时间和逃逸峰校正
计算机：	英特尔, 酷睿 i5 3470 处理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 内存, 微软 Windows 10 专业版, 64位
相机：	1 / 4“（6mm）CMOS-1280×720 VGA分辨率
视频放大倍率：	20x：标准
电源：	150W，100-240V，频率范围为47Hz至63Hz
重量：	25kg
马达控制/可编程XY平台	不可用
延伸可编程XY平台：	不可用
可选的手动XY样品台	表格大小：279mm（11“）x 254mm（10”）行程：38mm（1.5“）x 38mm（1.5”）
样品仓尺寸：	高度：100mm（4"），宽度：325mm（13"），深度：300mm（12"）
外形尺寸：	高度：325mm（13"），宽度：350mm（14"），深度：450mm（18"）

987和ISO 3497
本页产品地址：http://www.geilan.com/sell/show-8486345.html