PA-300-MT PHL应力双折射测量仪PA-300-MT

PHL应力双折射测量仪PA-300-MT PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其专利技术的光子晶体偏光阵列片，独有的双折射算法设计制造，得到每片样品仅需几秒钟的测量能力，使其成为业内，特

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其中高功率半导体激光器，微光学透镜，划片机，
应力双折射测试仪尤其受到客户的赞许。
另外，欧屹科技以专业的技术支持和售后服务；丰富国际贸易经验为广大用户提供广泛的支持，
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PHL应力双折射测量仪PA-300-MT主要特点：

• 操作简单，测量速度可以快到3秒；
• 视野范围内可一次测量，测量范围广；
• 更直观的读取数据，无遗漏数据点；
• 具有多种分析功能和测量结果的比较；
• 维护简单，不含旋转光学滤片的机构;
• 高达2056x2464像素的偏振相机。

PHL应力双折射测量仪PA-300-MT应用领域：

• 小尺寸样品专用
• 光学镜头
  

项次	项目	具体参数
1	输出项目	相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】
2	测量波长	520nm
3	双折射测量范围	0-130nm
4	测量小分辨率	0.001nm
5	测量重复精度	<1nm（西格玛）
6	视野尺寸	17.5x21mm到33x40mm（标准）
7	选配镜头视野	6.3x7.5mm
8	选配功能	实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制

PHL应力双折射测量仪PA-300-MT测量案例：


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