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PA-Micro PHL应力双折射测量仪PA-Micro

北京欧屹科技有限公司
会员指数: 企业认证:

价格:电议

所在地:北京

型号:PA-Micro

更新时间:2022-03-01

浏览次数:1052

公司地址:北京市昌平区回龙观西大街115号龙冠大厦3楼

王新波(先生)  

产品简介

PHL应力双折射测量仪PA-Micro PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪,PA系列测量双折射测量范围达0-130nm,可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其专利技术的光子晶体偏光阵列片,独有的双折射算法设计制造,得到每片样品仅需几秒钟的测量能力,使其成为业内,特

公司简介



欧屹科技,是以激光、光电仪器、电子封装设备为核心业务的专业代理经销商和服务商,欧屹科技以多年的行业经验,
为客户引进国内外先进的激光器、光电器件、光电仪器、光电系统、电子封装设备等高精尖仪器设备
其中高功率半导体激光器,微光学透镜,划片机,
应力双折射测试仪尤其受到客户的赞许。
另外,欧屹科技以专业的技术支持和售后服务;丰富国际贸易经验为广大用户提供广泛的支持,
我们正尽最大努力把欧屹科技建设成为值得您信赖的公司
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产品说明



PHL应力双折射测量仪PA-Micro主要特点:
  • 操作简单,测量速度可以快到3秒。
  • 视野范围内可一次测量,测量范围广。
  • 更直观的读取数据,无遗漏数据点。
  • 具有多种分析功能和测量结果的比较。
  • 维护简单,不含旋转光学滤片的机构。
  • 高达2056x2464像素的偏振相机。

PHL应力双折射测量仪PA-Micro应用领域:
  • 通信光纤
  • 晶体
  • 医学细胞

PHL应力双折射测量仪PA-Micro技术参数:

项次

项目

具体参数

1

输出项目

相位差【nm】,轴方向【°】,相位差与应力换算(选配)【MPa】

2

测量波长

520nm

3

双折射测量范围

0-130nm

4

测量小分辨率

0.001nm

5

测量重复精度

<1nm(西格玛)

6

视野尺寸

142x170um到3.5x4.2mm
(×2,×5,×10,×20,×50)

7

选配镜头视野

8

选配功能

实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控制


PHL应力双折射测量仪PA-Micro测量案例:

本页产品地址:http://www.geilan.com/sell/show-8905605.html
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