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SE-RD-STD系列 全光谱椭偏仪

无锡浩辉者新材料科技有限公司
会员指数: 企业认证:

价格:电议

所在地:江苏 无锡市

型号:SE-RD-STD系列

更新时间:2024-08-13

浏览次数:637

公司地址:无锡惠山区清研路3号华清创智园8号楼A栋创业大厦201室'

小王(女士)  

产品简介

● 桌上型膜厚量测设备● 安装移动迅速便捷● 适用于所有非金属膜质● 多样化的应用选择● 工业标准数据端口

公司简介

无锡浩辉者新材料科技有限公司依靠多年材料特性研究的经验及对检测设备及技术的研发与应用,为客户提供材料检测分析仪器及方法。让客户深入了解全面的分析技术,以及其性能限制,为客户的分析需求选择适合的分析仪器。与此同时,我们会帮助辅导客户完成整个分析过程,得到客户所需要的答案及结果。也可依顾客需求,提供完整专业的系统解决方案。目前服务于各大专院校、研究机构、产业界研发单位和具备自主研发能力的大型企业,期望对国内外的科研及产业尽一份心力。
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产品说明

全光谱椭偏仪——

● 桌上型膜厚量测设备

● 安装移动迅速便捷

● 适用于所有非金属膜质

● 多样化的应用选择

● 工业标准数据端口


全光谱椭偏仪——

规格

技术指标

衬底类型

透明或半透明衬底

光源

氙灯

光源寿命

>8760H

光谱范围

300-1000nm

入射角

70度(40度-90度 每5度可调)

光斑直径

100x120μm(Min80x100um)

测量时间(不对焦)

<2S(单层模型),<约6s(多层模型)

膜厚测量范围(单层膜)

1nm-15μm

对焦

自动讯号对焦

膜厚测量精度

<0.5nm(基于标片)

折射率测量精度

<0.005(基于标片)

厚度重复性精度:

<0.5A(1 sigma 标准差,10times)(基于标准片)

折射率重复性精度:

<0.0005(1 sigma标准差,10times)(基于标准片)

可测试膜层数量

≥2层

标片数量

2片



本页产品地址:http://www.geilan.com/sell/show-9563844.html
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