| 提交询价信息 |
| 发布紧急求购 |
价格：电议
所在地：江苏 无锡市
型号：SE-RD-STD系列
更新时间：2024-08-13
浏览次数：648
公司地址：无锡惠山区清研路3号华清创智园8号楼A栋创业大厦201室'
小王(女士)
全光谱椭偏仪——
● 桌上型膜厚量测设备
● 安装移动迅速便捷
● 适用于所有非金属膜质
● 多样化的应用选择
● 工业标准数据端口
全光谱椭偏仪——
|
规格 |
技术指标 |
|
衬底类型 |
透明或半透明衬底 |
|
光源 |
氙灯 |
|
光源寿命 |
>8760H |
|
光谱范围 |
300-1000nm |
|
入射角 |
70度（40度-90度 每5度可调） |
|
光斑直径 |
100 |
|
测量时间（不对焦） |
<2S(单层模型),<约6s（多层模型） |
|
膜厚测量范围（单层膜） |
1nm-15μm |
|
对焦 |
自动讯号对焦 |
|
膜厚测量精度 |
<0.5nm(基于标片) |
|
折射率测量精度 |
<0.005(基于标片) |
|
厚度重复性精度： |
<0.5A（1 sigma 标准差,10times）（基于标准片） |
|
折射率重复性精度： |
<0.0005（1 sigma标准差,10times）（基于标准片） |
|
可测试膜层数量 |
≥2层 |
|
标片数量 |
2片 |
免责声明：以上所展示的[SE-RD-STD系列 全光谱椭偏仪]信息由会员[无锡浩辉者新材料科技有限公司]自行提供，内容的真实性、准确性和合法性由发布会员负责。
