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价格：电议
所在地：上海
型号：
更新时间：2023-12-29
浏览次数：887
公司地址：上海-闵行区-剑川路955号1108室
胡安(先生)
BeamAnalyzer 刀口式光束质量分析仪
Duma Optro
BeamAnalyzer 刀口式光束质量分析仪采用独特的专利技术在不同的交又角和不同的交又面对光束空间强度进行断层重建从而测量光束质量。提供了高分辨率光束直径和剖面测量，并能够显示光束功率分布的二维和三维视图。
产品特点：
·刀口光束质量分析系统
·层析成像重建算法
·光束测量范围3微米至9毫米
·准确测量轮廓，位置和功率
·多种探测器类型，波长覆盖从深紫外到近红外
BeamAnalyzer 刀口式光束质量分析仪
产品应用：
·实时测量光束尺寸和高斯拟合(或平顶光束)
·实时绘制光束的二维/三维视图
·激光器的光束质量分析
·激光束分析:轮廓、光束尺寸、位置、功率
型号参数：
传感器类型
Si/UV-Si/IR/IRE
光谱范围
Si
UV-Si
IR
IRE
350-1100nm
190-1100nm
800-1800nm
1200-2700nm
刀片数
3（BA3头）
7（BA7头）
光束尺寸范围
BA3-Si和BA3-UV
BA7-Si和BA7-UV(椭圆形)
BA7-Si和BA7-UV（圆形）
BA3-IR3和BA3-IR3-E
BA7-IR3和BA7-IR3-E
BA3-IR5
BA7-IR5
3μm-5mm
15μm-10mm
15μm-9mm
3μm-3mm
15μm-3mm
3μm-5mm
15μm-5mm
光束宽度分辨率
>100μm
<100μm
1μm
0.1μm
光束宽度精确度
±2%
功率范围
Si和UV-Si探头
InGaAs探头
10μW-1W(有衰减片)
10μW-5mW(无衰减片)
功率精确度
Si和UV-Si探头
InGaAs探头
±5%
±10%
功率分辨率
0.1μW
位置精确度
±15μm
位置分辨率
1μm
饱和度
Si和UV-Si探头
0.1W/cm2(无衰减片)，20W/cm2(NG9)
测量速率
5Hz
温度
0℃-35℃
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