产品简介
日本Kett品牌LE-370电磁膜厚计 機型:LE-370
公司简介
我司是精密测试仪器代理商,为在中国独家代理美国Thermo-Electron X-射线测厚仪及德国ROENTGENANALYTIK Compact eco系列X-射线测厚仪。此两种仪器主要用于镀层或涂层厚度的测量,而且特别适合于对微细表面积或超薄镀层的测量。以下我们公司其他主要产品: 新加坡QTEST CIMS 特性阻抗测试仪 韩国Micro Pioneer XRF-2000系列测厚仪 美国Solar Metrology 太阳能薄膜电池厚度测量仪 日本KYORITSU WAK-水质离子测试包 美国WALCHEM(禾威)电镀药液自动添加系统 美国OMEGA 600SMD离子污染测试仪 美国UPA / VEECO非破坏性厚度测试仪 美国EXTEC研磨 / 抛光器材及消耗品 英国JENWAY分光光度计 美国Kocour库仑测厚仪、侯氏槽、阴/阳极片、离心机等 德国SCAN-DIA研磨 / 抛光器材及消耗品 美国INNOV-X伊诺斯RoHS分析仪(手提式:XRF 6500,台式:Ray-tek1800) 美国ECI电镀药液分析系统 美国DICKSON/DeltaTRAK/OMEGA温湿度记录仪 日本SHIMADZU(岛津)分光光度计、X射线荧光分析仪 日本IWAKI工业用泵 韩国K-Mac ST4080-OSP 光学测厚仪 美国SPELLMA******??电源供应器 日本KETT磁感/涡流涂层测试仪 俄罗斯INTRON PTH-1/ITM-52手提式线路板孔铜测厚仪 美国RPS可焊性测试仪 美国UNITRON工业用显微镜系统及表面光滑度测试仪 美国EXTECH多用途万用表 美国CECO板材厚度测试仪、铜箔剥离强度仪 一直致力于为PCB厂商,电镀行业,科研机构,半导体生产等电子行业提供高性能的仪器和优质的售后服务。【shanghai yilang yiqi youxiangongsi】
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产品说明
日本Kett品牌LE-370电磁膜厚计
機型:LE-370
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- 中文介面
具備中文、日文、英文、韓文四種操作語言顯示,操作簡單明瞭。
- 100組檢量曲線記憶容量
使用者可將所有工件分類,將檢量曲線各別建立,開機即可上使用,不需再校正。
- 測量值具查閱功能
工作現場的量測值多可記憶3,000筆,使用者可在「刪除數據」功能下,一一查閱每一筆測量值。
- 具統計平均功能
統計計算範圍可由使用者自行設定,統計計算zui大值、zui小值、平均值及標準差值。
- 具連續掃瞄測量功能
370系列膜厚計搭載「單點測量」及「連續測量」功能,廣用於各種表面狀況及排除測量爭議。
- 具資料傳輸功能
測量數值可外接專用印表機VZ-330(選購)或外接電腦。測量時即時傳輸或測量後一併傳輸皆可。
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日本KETT 手提型膜厚計 LE-370
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測量方式
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電磁誘導式
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測量對象
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磁性金屬上非磁性被膜
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測量範圍
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0~2,500μm或0~99.0mils
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測頭型式
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單點接觸定壓式(LEP-J) |
zui小測量
面積
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3x3mm |
測量精度
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50μm以下:±1μm
50μm~1,000μm:±2%
1,000μm以上:±3%
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解析度
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100μm以下:0.1μm
100μm以上:1.0μm
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檢量曲線
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100組檢量曲線記憶 |
資料記憶數
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約3,000筆,資料具查閱功能 |
測量功能
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具單點測試、連續掃瞄測試,可測試膜厚分佈變化 |
顯示方式
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背光式LCD(180x64dots)數位顯示
zui小解析0.1μm |
外部輸出
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可將資料輸出至個人電腦或專用印表機(RS-232C) |
電 源
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單3鹼性電池x4顆 |
電力消耗
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80mW(當背光關閉時) |
電池壽命
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約100小時(連續使用,背光關閉時) |
操作環境
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0~40℃ |
應用功能
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檢量線選擇、素材補正、資料刪除、資料記憶、上下限設定、統計計算(測量次數、平均值、標準偏差、zui大值、zui小值)、顯示選擇、日期時間、自動關機時間、背光亮度、背光時間、單位切換、資料輸出、自動批號區分、測量方式、維修模式等功能 |
尺 寸
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W75xD140xH31(mm)
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重 量
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約340g
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標準配件
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標準片盒子、單3號鹼性電池1.5Vx4顆、曲面固定器、攜帶皮套 |
專屬配件
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鐵素材(FE370)、標準片6片組(10μm、50μm、100μm、500μm、1,000μm、1,500μm) |
選購配備
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標準片(配件以外的厚度)、膜厚計測台LW-990、USB電腦傳輸線、專用印表機VZ-330、印表機專用傳輸線、RS-232C&USB轉換線、資料管理軟體LDL-02、資料管理軟體McWAVE系列
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