X-荧光射线镀层测厚仪

昆山卓尔信牛津X-荧光射线镀层测厚仪，是牛津仪器新发布的新一代X射线荧光（XRF）镀层测厚仪，仅需10秒即可得出测量结果，是CMI900的升级版，改进了系统安全部件，更新了软件系统，测量结果可进行多样化的输出。适用于大多数行业，是质量控制、节约成本的检测工具。

本公司主要致力于PCB、SMT等电子工业用光学检测及物理实验室设备的研发、销售及技术服务。同时是Oxford牛津仪器CMI系列代理经销商。部分产品可广泛应用于电子、光电、五金、电镀、新能源汽车等制造领域。公司坚持以行业高标准为依据，严格要求，狠抓产品质量关，努力做到不让任何问题产品流入客户端。同时我们为客户提供24小时专业的业务咨询，保证客户能够得到专业、贴心的服务。

昆山卓尔信牛津X-荧光射线镀层测厚仪特点：
      1.以更有效的过程控制来提高生产力，有助电镀过程中的生产成本zui小化、产量zui大化。
      2.的分析性能
      3.的
      4.快速无损地分析珠宝及其它合金
      5.快速分析多达4层镀层及15种元素
      6.经行业认证的技术和可靠性，确保每年都带来收益
      7.操作简单，只需要简单的培训
      8.样品台，便于大面积样品测量，比如印刷电路板
      9.坚固耐用，把停工期降到少
     10.更好的稳定性及长期可靠性
     11.新的外观设计
     12.工作的寿命延长
     13.新的安全特征确保数据完整性
     14.可定时的“自动锁机”功能
     15.防止未授权操作
     16.改进的报告能力
     17.与Microsoft Excel无缝联接

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