SGW X-4 仪电物光显微熔点仪

仪电物光显微熔点仪测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。

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仪电物光显微熔点仪适用范围：
测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。
仪电物光显微熔点仪产品特点：
仪器采用显微镜观察方法，具有二种测试模式，既可用（毛细管法）测定，又可用（载玻片-盖玻片法）测量，测试样品面广。。 工作台选用(热台法)测定，保证了测量精度稳定性、重复性。 特制的防风罩，减少了环境对测试结果的影响。 显微熔点仪是作为教学仪器的选择。

1、本仪器可用毛细管和载玻片两种方法进行测量。：ZL02215087.0

2、根据特殊要求，本仪器也可用载玻片（用盖玻片代）法进行测量。

3、本仪器采用LED数字显示熔点温度值。

4、本仪器采用热台控制系统和显微镜组合成一体的结构简单可靠，使用方便。

5、升温速率连续可调。我们建议你采用1℃/分的升温速率测量熔点的温度值，在一次使用时记录下1℃/分的升温速率时的波段开关和电位器的编号，则以后用此位置就能得到你所要求的升温速率。

并请注意：

(1)、室温的影响：在同样波段开关和电位器的编号下，室温越低，升温速率越慢。

(2)、电子元件的影响：电子元件的老化，升温速率一定时，其电位器的编号会有所变化，只要进行微调即可。编号越大，升温速率越快。

仪电物光显微熔点仪：

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