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价格:电议
所在地:广东 深圳市
型号:SCG-4
更新时间:2017-02-15
浏览次数:997
公司地址:深圳市宝安区西乡街道恒丰工业城C1栋3楼
吴先明(先生)
低温和高温真空探针台
SEMISHARE真空环境高低温测试技术
以下两个应用需要真空测试环境。
低温测试:
因为晶圆在低温大气环境测试时,空气中的水汽会凝结在晶圆上,会导致漏电过大或者探针无法接触电而使测试失败。避免这些需要把真空腔内的水汽在测试前用泵抽走,并且保持整个测试过程泵的运转。
高温无氧化测试:
当晶圆加热至300℃,400℃,500℃甚至更高温度时,氧化现象会越来越明显,并且温度越高氧化越严重。过度氧化会导致晶圆电性误差,物理和机械形变。避免这些需要把真空腔内的氧气在测试前用泵抽走,并且保持整个测试过程泵的运转。
晶圆测试过程中温度在低温和高温中变换,因为热胀冷缩现象,定位好的探针与器件电间会有相对位移,这时需要针座的重新定位,SEMISHARE针座位于腔体外部。我们也可以选择使用操作杆控制的自动化针座来调整探针的位置。
SCG-C-4(闭循环)/SCG-O-4(开循环)特点:
载物Chuck 温度范围:4K-500K
外置4个定位针臂,预留2个
探针X-Y-Z三方向移动,行程:25.4mm,定位精度:10微米
多可以外置6个定位针臂
载物chuck zui大可到8英寸
双屏蔽chuck高低温时达到100FA 的测试精度
针臂定位精度可以升级为0.7微米
可以选择射频配件做zui高67 GHz的射频测试
可以选择防震桌
可以选择超高真空腔体,限真空到10-10 torr
客户订制
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温控规格:
机械规格
光学部件规格
可选附件
防震桌
方形chuck
分子泵组
射频部件
Chuck可外部移动装置
客户定制。
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