供应优质探针 探针

T-4-10型探针的钨材质针尖在

扫描电镜下的成像

T-4 系列软针较多的应用于点测集成电路的线路，电，或者FIB(聚焦离子束) 制作的mini电。

T-4系列软针的结构采用不同直径钨材质针须焊接于镀锡的铜材质针杆上。

其中T-4-10和T-4-22两款是客户反馈比较有的型号，因为其针须直径较细，具有良好的弯曲弹性，能够大的减少对芯片电的损害，在部分震动环境下面也能够保证和电的良好接触。

T-4 软针不建议在敏感节点使用，因为会产生电容负载的问题，在此环境下，建议使用高阻抗Picoprobes系列探针。

图1

T-4 系列探针

型号

钨材质针须直径

针尖直径

针须长度

T-4-5

5 微米

<0.2微米

0.13" (3.3mm)

T-4-10

10微米

<0.2微米

0.13" (3.3mm)

T-4-22

22微米

<2.0微米

0.20" (5.1mm)

T-4-35

35微米

<4.0微米

0.20" (5.1mm)

T-4-60

60微米

<6.0微米

0.20" (5.1mm)

T-4-125

125微米

<10.0微米

0.20" (5.1mm)

图2

T-4 系列探针尺寸图

图3

ST 系列硬针是0.020 inch (0.51mm) 直径钨材质针杆经过电化学加工成为不同的针尖直径，长度为1.5inch(38.1mm)的探针。这种探针应用与大多数的芯片电点测和线路点测。

ST系列硬针可以用于与刮擦或者刺穿芯片表面钝化层。该探针可以选择表面镀镍，如果选择镀镍则型号后面增加“NP”。

ST系列硬针

型号

针杆直径

针尖直径

ST-20-0.5

0.020" (0.51mm)

<1 微米

ST-20-1.0

0.020" (0.51mm)

<2.0微米

ST-20-2.0

0.020" (0.51mm)

<4.0微米

ST-20-5.0

0.020" (0.51mm)

<10.0微米

ST-20-10.0

0.020" (0.51mm)

<20.0微米

图 4

ST 系列探针尺寸

图5