微分干涉显微镜

部件用途：

a.明场观察：使用亮度可调的同轴照明，对晶体、集成电路的检验、制造业的装配、零件检测和品质控制。

b.透射观察：采用亮度可调的透射照明，可观察透明样品，尤其对液晶显示屏的检测效果更好，能清楚的看到发光屏的三色模块，因此能检测显示屏的好坏，可判断其质量。

c.偏光观察：系统内装置偏光机构，起偏镜固定在照明系统；检偏镜装置在成像系统、转动100度可调，便于正交观察。主要对金相样品进行正交偏振光观察，还可应用于矿物、化学等领域。

d.DIC观察——微分干涉观察：在明场、偏光正交的系统里再插入DIC棱镜装置（渥拉斯顿棱镜），（DIC）作为一种具前途的要析检验方法，具有对金相样品的制备要求较低，所观察到的样品各组成之间的相对层次关系突出，呈明显的浮雕状，对颗粒、裂纹、孔洞以及凸起等能作出正确的判断，能够容易判断许多明场下所看不到的或难于判别的一些结构细节或缺陷，可进行彩色金相摄影等优点。但在目前的金相检验工作中，（DIC)法还利用得很少，特别是对液晶显示屏导电板的检测效果更好，能够清楚的观察到导电板基板上的导电粒子。使用DIC技术，可以使物体表面微小的高低差展现出清晰，轮廓突出，带立体感的浮雕成像，大地提高图像的对比度。
 

规格配置：

远光学系统：f=200mm

电子放大倍数：50、100（选购)、200（选购)、500（选购)

长工作距离：5-45mm

手动调焦范围：60mm

工作台：260*220mm

玻璃台：170*150mm

移动范围：X：正负75mm，Y:正负75mm

照明系统：垂直照明、透射照明