您所在的位置: 给览网 » 供应 » 通用分析仪器 » 显微镜 » 其它显微镜 » RENI金相工具显微镜RX系列

RENI金相工具显微镜RX系列

宁波正天三维信息科技有限公司

会员指数：

企业认证：

价格：电议

所在地：浙江宁波市

型号：

更新时间：2016-09-24

浏览次数：977

公司地址：浙江余姚低塘芦城立交桥东侧20米（329国道旁）

13567418246 莫志明(先生)

点击查看联系电话在线询价

产品简介

该仪器适用于LED液晶、导电粒子彩色滤光片、手机屏幕、FPD模组半导体晶图片、FPC-PCB、IC封装光盘CD、图像传感器、CCD、CMOS、PDA光源等需要金相观察及测量行业

公司简介

展开

产品说明

仪器用途：

该仪器适用于LED液晶、导电粒子彩色滤光片、屏幕、FPD模组半导体晶图片、FPC-PCB、IC封装光盘CD、图像传感器、CCD、CMOS、PDA光源等需要金相观察及测量行业。

仪器特点：

超高的工作距离，采用电机升降（日本“信浓”步进电机），方便调节，自带DIC装置插槽。

规格参数

仪器型号	RX-200	RX-300
光学系统	远光学系统、物镜管镜聚焦200mm、齐焦距离95mm
目镜筒	铰链式三目镜筒、30度倾斜、瞳距55—75mm
目镜	高眼点、大视场目镜WF10/22
物镜转盘	5孔物镜转换器
明场物镜（N、A）	平场半复消色差物镜 5X/0.14、10/0.25、20/0.40
物镜工作距离	W.D:10.8mm、10mm、4.0mm
偏光系统	光谱范围：480-550mm，含起偏镜、检偏镜
照明方式	12V 50W卤素灯落射照明、10WLED透射照明
粗调方式	电机升降（日本“信浓”步进电机） 200mm升降范围
微调方式	手动微调、微动格值0.002册、40mm升降范围
DIC装置	自带DIC装置插槽
载物台	8英寸快速移动平台（200100mm有效行程）	12英寸速移平台（300200mm有效行程）
数显分辨率	0.5μm
测量误差	（2+L/250）μm
数显装置	DP-100
摄影接口	0.5X 摄影接口
CCD	美国"TEO"43万像素彩色CCD
测量软件	RJ-J金相专用测量软件
选购件	50/0.60 / 100/0.55物镜（W.D 12.5)、暗场物镜、OLYMPUS微分干涉镜组

联系（TEL）： () ：杨小姐

RX-J测量软件介绍

1、自动测量功能：鼠标自动找直线、点选圆、框选圆区域自动圆、自动圆弧

2、手动CNC：在有夹具的情况下面可以进行半自动测量

3、光学测高功能

4、光学测量平面度

5、辅助对焦：帮助找到清晰时候的Z位置（辅助调焦提高测量精度）

6、图片输出：测量结果可以图片的格式输出（相当于数码相机功能）

7、形位公差：圆度，直线度，平行度，垂直度，同心度

8、设置公差：可设置产品的实际尺寸超出范围，超出则以红色背景警示

9、CCD矫正：矫正图像畸变

10、轮廓跟踪：通过软件自动计算出工件的轮廓并显示出来（清晰显示测量位置）

11、矢量绘图功能：图元字体可以无级的放大缩小

12、标注功能:半径标注,直径标注,角度标注,线性标注,对齐标注,文字标注,坐标标注

13、命令行：可以由命令行直接输入坐标信息，生成点、直线、圆、圆弧等，满足特殊需要

14、地图测量：可把所拍的工件局部照片的整合成工件全图，并保存为高像素的照片。还可打开以前所拍的地图，直接进行绘图、标注、修改等操作（合成大图片）

15、虚拟测量：虚拟测量技术使影像测量软件可脱离硬件机台。在没有机台和产品的情况下，软件同样可以测量产品的尺寸（可以脱机测量）

16、二维抄数：可将产品外形描出，描出的图形可转入AutoCAD形成工程图，可以做逆向工程

17、SPC分析：可以计算CA、CP、CPK、DRL、DRR、DR、MAX、MIN、AVG、RANGE、STD，并可以绘出X-R图，散点图，折线图，柱状图等

轻松学习区域

三坐标系列（三次元、三维测量仪、3D测量仪）

仪器用途：该类仪器主要以三维检测为目的，采用了英国接触式的探头测针。被广泛用于模具、汽车零配件、塑胶件等各类物件的检测使用。

影像仪系列（二次元、2.5次元、CNC全自动影像仪、二维测量仪、2D测量仪）

仪器用途：该类仪器主要以二维检测为目的，采用了第四代半导体LDE灯照明，进行非接触式的测量。被广泛用于机械、五金、电子、模具、塑胶、PCB板等各类物件的检测使用，是计量室和生产车间不可缺少的检测仪器设备。

金相工具显微镜系列（金相显微镜、金相工具显微镜、工具显微镜、小型工具显微镜）

仪器用途：该类仪器主要以二维检测和观察为目的，采用了第四代半导体LDE灯和卤素灯照明，进行非接触式的测量和观察。1.金相类——被广泛用于LED液晶、导电粒子彩色滤光片、FPD模组、半导体晶图片、FPC—PCB、IC封装光盘CD、图像传感器、CCD、CMOS、PDA光源等产品的观察及检测。2.工具类——被广泛用于机械、五金、电子元件、模具、塑胶、钟表、弹簧、螺丝、连接器等各种产品的检测使用。