表盘底盖缺陷检测仪

该仪器主要用于自动检测表盘正面缺陷,如：确认表盘表面的底色及底纹、表面是否刮花、有污渍、灰尘；确认时位字钉形状、粗幼、长短、颜色、夜光、少字钉、错字钉、钉伤、钉崩、钉污等；确认分线印刷的位置、大小、颜色、断划、少印刷等；确认LOGO印刷的位置、大小、颜色、断划、印刷不良等; 确认日历窗的大小、印刷、披锋等

 

 仪器用途： 仪器参数：

产品型号	YX-AOI
工作环境参数	振动<0.1g,低于15HZ
仪器允许使用环境温度	10℃---35℃（恒温）
环境相对湿度	（60±5）%
能源	电源电压：220V电源，电压频率：50HZ,电源zui大消耗功率不超过：500W
成像系统	工业镜头（500万像素）
zui大光圈/焦距	F1.8-c/50mm
分辨率	500万
传输率	千兆位以太网
帧率	34fps,zui大：在全分辨率50fps
像元尺寸	4um
量测范围	长0-48mm、宽0-43mm
整台机尺寸为	1200mm*400mm*600mm
重量	150KG
光源	24V/16W LED灯
拍摄精度	4um
软件分析精度	0.01mm
重复性精度	3um
计算机系统（宏基，联想）	品牌机（可选）CPU 多核 内存：4GB  硬盘：500GB  显卡：1G显卡 显示器：21“LCD标屏 操作系统：Windows 7正版操作系统。提供完整的驱动程序，计算机专业操作桌，光学鼠标，键盘

仪器：
（主要用于快速大范围检测，具有更高的分辨率）

摄像系统	采用面阵相机
摄像方法	面状区域拍摄
光源照明方式	同轴光源
照明系统	直射照明，24V 16W LED灯
对焦方式	手动
时实亚像素找点	次将亚像素图像处理技术引入影像仪检测行业，大的提高了检测精度和检测效率，测量一个图元，较同类软件，至少节省3/5的时间，精度提高2倍以上（在相同光学倍率下）
光学辅助对焦	可帮助您调到的高度，其的光学对焦，使光学和数字图像处理技术得到结合。既使使用普通镜头和普通CCD也可使测量结果的精度和重现性在2um以内，此项技术达到了水平，缩短了影像测量技术与国外技术的差距
快照	拍摄单张照片的功能
图片输出	测量结果可以图片的格式输出
设置公差	可设置产品的实际尺寸超出范围，超出则以红色背景警示
单位换算	公英制转换
角度自动矫正	矫正图像摆放角度
CCD矫正	矫正图像畸变

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