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价格：电议
所在地：广东 东莞市
型号：AE-100M
更新时间：2016-08-24
浏览次数：1418
公司地址：
陈义隆 (先生)
产品用途
结合光学显微镜与白光干涉仪功能的扫描式白光干涉显微镜，结合显微物镜与干涉仪、不需要复杂光调整程序，兼顾体积小、纳米分辨率、易学易用等优点，可提供垂直扫描高度达400um的微三维测量，适合各种材料与微组件表面特征和微尺寸检测。应用领域包含
产品特点
● 纳米深度3D检测
● 高速/无接触量
● 表面形状/粗糙度分析
● 非透明/透明材质皆适用
● 非电子束/非镭射的安全量测
● 低维护成本
专业级的3D图形处理与分析软体（Post Topo）
● 提供多功能又具亲和接口的3D图形处理与分析
● 提供自动表面平整化处理功能
● 提供高阶标准片的软件自校功能
● 深度/高度分析功能提供线型分析与区域分析等两种方式
● 线型分析方式提供直接追溯ISO定义的表面粗糙度（Rorghness）与起伏度
● （waviness）的测量分析。可提供多达17种的ISO量测参数与4种额外量测数据（Wafer）
● 区域分析方式提供图形分析与统计分析。
● 具有平滑化、锐化与数字过滤波等多种二维快速利叶转换（FFT）处理功能。
● 量测分析结果以BMP等多种图形档案格式输出或是Excel文本文件格式输出
高速的干涉解体软体(ImaScan)
● 系统硬件搭配ImgScan前处理软件自动解析白光干涉条纹
● 垂直高度可达0.1nm
● 高度的分析算法则，让你不在苦候测量结果
● 垂直扫描范围的设定轻松又容易
● 有10、20、50倍率的物镜可供选择
● 平台XYZ位置数显示，使检标的寻找快速又便利
● 具有手动/自动光强度调整功能以取得的干涉条纹对比。
● 具有的PVSI与高速VSI扫描测量模式供选择。
● 具有的解析算法则可处理半透明物体的3D形貌。
● 具有自动布补点功能
● 可自行设定扫描方向
| 技术规格参数 | |||||
| 型号 | AE-100M | ||||
| 移动台(mm) | 平台尺寸100*100 ，行程13*13 | ||||
| 物镜放大倍率 | 10 | 20 | 50 | ||
| 观察与量测范围 | 0.43*0.32 | 0.21*0.16 | 0.088*0.066 | ||
| 光学分辨力(um) | 0.9 | 0.69 | 0.5 | ||
| 收光角度(Degrees) | 17 | 23 | 33 | ||
| 工作距离 | 7.4 | 4.7 | 3.4 | ||
| 传感器分辨率 | 640*480像素 | ||||
| 机台重量(kg)/载重kg | 20kg/小于1kg | ||||
| Z轴移动范围 | 45mm , 手动细调 | ||||
| Z轴位置数字显示器 | 分辨率1um | ||||
| 倾斜调整平台 | 双轴/手动调整 | ||||
| 高度测量 | |||||
| 测量范围 | 100（um)(400um ,选配) | ||||
| 量测分辨力 | 0.1mm | ||||
| 重复精度 | ≤ 0.1％ (量测高度:>10um) ≤10um(量测高度1um 10um) ≤ 5nm(量测高度:<1um ) |
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| 量测控制 | 自动 | ||||
| 扫描速度(um/s) | 12(zui高) | ||||
| 光源 | |||||
| 光源类型 | 仪器用卤素（冷）光源 | ||||
| 平均使用寿命 | 1000小时100W 500小时（150W） | ||||
| 光强度调整 | 自动/手动 | ||||
| 数据处理与显示用计算器 | |||||
| 中央处理运算屏幕 | 双核心以上CUP | ||||
| 影像与数据显示屏幕 | 17 " 双晶屏幕 | ||||
| 操作系统 | Windows XP(2) | ||||
| 电源与环境要求 | AC100 --240 V 50-60Hz | ||||
| 环境震动 | VC-C等级以上 | ||||
| 量测与分析软件 | |||||
| 测量软件 | ImScan测量软件 具VSI/ PVS/PSI 测量模式（PSI量测模式需另选配PSI模块搭配） PosTopo 分析软件 |
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| 分析软件 | ISO 粗燥度/阶高分析，快速传利业转换和滤波，多样的2D和3D 观测视角圆，外形/面积/体积分析，圆像缩放、标准影像文件格式转换 报表输出，程序教导量测等。 |
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