CMI900/X-STRATA 920 牛津镀层测厚仪波谱校正片

X荧光镀层测厚仪CMI900，CMI920波谱校正片，测厚仪校正片，膜厚仪校正片。

      深圳市维创兴电子科技有限公司，是一家集实验室仪器、信赖性仪器、化验分析设备于一身的研发到销售一条龙的高新科技企业。主营业务涉及电子、五金、PCB行业的精密仪器代理、销售、新仪器的研发、设计和生产、仪器的维修，升级，改造等，主要产品有：代理英国牛津CMI系列的孔铜、面铜测厚仪，英国牛津/美国博曼X射线镀层测厚仪系列，德国Sequid及自主研发的差分时域TDR阻抗测试仪，milum系列PCB孔面铜测试仪等产品。

     自公司成立以来我们不断精益求精，创造出符合国际规范、行业规范的产品。从产品研发到售后服务，每一个环节都以客户的观点与需求作为思考的出发点，并以先进的加工设备，精湛的生产工艺，严格的管理体系，雄厚的技术实力和良好的品牌价值赢得许多国内外厂商的信赖与支持，经过多年的努力，维创兴公司秉持“用心合作、科技服务、以质共赢”的经营理念，凭借着雄厚的公司实力、强大的技术力量，完善的品质体系和优秀的服务成为了英国牛津，英国milum，电子科大奥特为的华南区的优秀合作伙伴。

牛津仪器1959年创建于英国牛津，是英国伦敦证交所的上市公司，生产分析仪器、半导体设备、超导磁体、超低温设备等高技术产品。在五十多年的高速发展过程中，牛津仪器公司凭借自身的科研优势，以超前的技术、出色的管理和独树一帜的产品和服务为全球的科技发展作出了巨大的贡献。牛津仪器现已成为世界著名的科学仪器领域的跨国集团公司，拥有分布于英国、美国、芬兰、德国和中国的十几个工厂、数十个分公司和办事处分，业务遍及全球一百多个国家和地区。

牛津仪器始终关注和支持着中国的发展，其产品于40年前就进入了中国市场，与中国的科研、教育和工业界的合作卓有成效。牛津仪器在上海有销售、生产、研发和全国售后服务中心 ，同时在北京、广州和成都设有办事处，为广大中国用户提供及时、有效的服务。

 产品类型：配件及消耗品

产品名称：X荧光镀层测厚仪波谱校正片

产品型号：X荧光镀层测厚仪CMI900，CMI920波谱校正片，测厚仪校正片，膜厚仪校正片

X-荧光镀层测厚仪CMI900 / 920金属镀层厚度的测量

CMI 900 / 920 系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供准确、快速的分析.基于Windows2000中文视窗系统的中文版 Smartlink FP 应用软件包，实现了对CMI900/920主机的自动化控制。

技术参数：      

CMI 900 X-射线荧光镀层厚度测量仪,在技术上一直以来都测厚行业

A  CMI 900 能够测量包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,薄的浸液镀层

（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定多5层、15 种元素。

B ：度于行业 ：数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求。如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。

D ：统计功能提供数据平均值、误差分析、zui大值、zui小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。
CMI900/920系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状各种尺寸的样品；

E ：可测量任一测量点，zui小可达0.025 x 0.051毫米

样品台选择：
CMI900系列采用开槽式样品室，以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用，分别为：
 一：手动样品台
1 标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。 
2 扩展型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。 
3 可调高度型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。 

二：自动样品台

1   程控样品台：XYZ轴自动控制。 
2   超宽程控样品台：XYZ轴自动控制。 

CMI920系列采用开闭式样品室，以方便测定各种形状、各种规格的样品。如右下图所示。同样，CMI950可提供四种规格的样品台供用户选用，分别为：
1   全程控样品台：XYZ 三轴程序控制样品台，可接纳的样品zui大高度为150mm，XY 轴程控移动范围为       300mm x 300mm。 此样品台可实现测定点自动编程控制。 
2   Z轴程控样品台：XY轴手动控制，Z轴自动控制，可接纳的样品zui大高度为270mm。

3        全手动样品台：XYZ三轴手动控制，可接纳的样品zui大高度为356mm。 
可扩展式样品台用于接纳尺寸样品。 

CMI900/920主要技术规格如下：

主要规格                           规格描述
 
X射线激发系统                   垂直上照式X射线光学系统
 
                                       空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
 
                                       标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等
 
                                       功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准

                                        75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选
 
                                       装备有安全防射线光闸
 
                                       二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光

片任选
 
准直器程控交换系统            多可同时装配6种规格的准直器
 
                                       多种规格尺寸准直器任选：

                                       －圆形，如4、6、8、12、20 mil等

                                       －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

测量斑点尺寸                     在12.7mm聚焦距离时，zui小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)
 
在12.7mm聚焦距离时，zui大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)
 
样品室

－样品室结构                      开槽式样品室
 
－zui大样品台尺寸                610mm x 610mm
 
－XY轴程控移动范围            标准：152.4 x 177.8mm
                                       还有5种规格任选
 
－Z轴程控移动高度               43.18mm
 
－XYZ三轴控制方式              多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、

XYZ三轴手动控制
 
－样品观察系统                高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。（50倍和100倍观

察系统任选。） 

                                    激光自动对焦功能

                                         可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
 
计算机系统配置                    IBM计算机

                                         惠普或爱普生或佳能彩色喷墨打印机
 
分析应用软件                       操作系统：WindowsXP(OEM)中文平台

分析软件包：                       Smartlink FP软件包
 
－测厚范围                          可测定厚度范围：取决于您的具体应用。
 
－基本分析功能                   采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样

品。
 
样品种类：                          镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)
 
                                         可检测元素范围：Ti22 – U92
 
                                         可同时测定5层/15种元素/共存元素校正
 
                                         贵金属检测，如Au karat评价
 
                                         材料和合金元素分析，
 
                                         材料鉴别和分类检测
 
                                         液体样品分析，如镀液中的金属元素含量
 
                                         多达4个样品的光谱同时显示和比较
 
                                         元素光谱定性分析
 
－调整和校正功能                 系统自动调整和校正功能，自动消除系统漂移
 
－测量自动化功能                 鼠标激活测量模式：“Point and Shoot”
 
                                         多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式和重复测

量模式
 
                                         测量位置预览功能
 
                                         激光对焦和自动对焦功能
 
－样品台程控功能                  设定测量点
 
                                         连续多点测量
 
                                         测量位置预览
 
－统计计算功能                    平均值、标准偏差、相对标准偏差、zui大值、zui小值、数据变动范围、

                                         数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图
 
                                         数据分组、X-bar/R图表、直方图
 
                                         数据库存储功能
 
                                         任选软件：统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书
 
－系统安全监测功能              Z轴保护传感器
 
                                        样品室门开闭传感器

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