显微颗粒图像粒度仪 型号：DP-TT180
显微颗粒图像粒度仪DP-TT180采用工业显微图像采集系统，使样品观测清。分析软件系统能够对样品的“单体数据”、“形态参数”、“整体分布”等参数行分析和计算，可以样品的整体分布规律的曲线图和颗粒形态描述等丰富数据，是对各类颗粒样品行观测和分析的仪器设备。由计算机分析出样品种等效粒径、X、Y切线等“单体属性”、以及包括长径比、球型度在内的“形态参数”。再通过步计算得出此样品的整体分布情况，软件中还增加了多幅图像拼接计算的模式，成倍增加了参与分析的颗粒数量，后可将样品的数据以报告的形式输出（包含有图像范例、图表、数据列表等），便于测试人员对测试结果行管理和汇报。
显微颗粒图像粒度仪 技术参数及详细配置
技术参数：
|
硬件参数 |
||
|
显微系统 |
物镜 |
4X、10X、40X、60X、100X（油）长距消色差（平场）物镜组 |
|
目镜 |
1X、10X、16X 大视野摄像目镜 |
|
|
载物台 |
手动三维机械式载物台，尺寸：185mm×140mm，移动范围：50mm×75mm，粗微同轴调焦，微动格值:2μm,带锁紧和限位装置 |
|
|
光源 |
底部透射光源，6V 20W卤素灯,亮度可调。可选部金相落射式光源（带起偏振器） |
|
|
总放大倍数 |
4倍——1600倍 |
|
|
辅助光源 |
卤素光源 |
|
|
粒径分析范围 |
1μm～2000μm |
|
|
摄像系统 |
分辨率 |
2048×1536 |
|
像素尺寸 |
3.2μm×3.2μm |
|
|
成像元件 |
1/1.8英寸 progress scan CMOS |
|
