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数字集成电路测试仪/数字IC测试仪HAD-ICT-33C

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  • 更新日期:2018-11-29 13:31
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详细介绍
产品特点:
◆器件好坏判别:当不知被测器件的好坏时,仪器可判断其好坏。
◆器件型号判别:当不知被测器件型号时,仪器可依据其逻辑功能来判断 其型号。
◆器件老化测试:当怀疑被测器件的稳定性时,仪器可对其进行连续老化测试。
◆器件代换查询:仪器可显示有无逻辑功能一致,引脚排列一致的器件型号。
◆电压调节选择:3V、5V、9V、15V。
◆内部RAM数据修改:ICT-33C可从键盘对自己内部RAM中的数据进行随机修改。
◆EPROM、EEPROM器件读入:ICT-33C可将64K以内的EPROM、EEPROM器件内的数据进行读入
并保存。
◆EPROM、EEPROM器件写入:ICT-33C可将内部RAM中的数据写入到64K以内的EPROM、EEPROM
器件中,并自动校验。
◆ 新增RS232接口,与PC通讯,互送资料。
 
 
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