产品介绍：
该仪器适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
u主要性能指标
※波长范围及峰值波长:
uv-340探头:λ:(315~370)nm;λp=340nm
※辐照度测量范围:
(0.1~199.9×103)μw/cm2
※紫外带外区杂光:
uv340:小于0.05%
※余弦特性:
二光照度标准
※示值相对误差:
±10%
※响应时间:
1秒
※使用环境:
温度(0~40)℃;湿度<85%rh
※尺寸和重量:
180mm×80mm×36mm;0.2kg
※电源:
9v积层电池(6f22型)一只
