低阻抗分析仪/表面阻抗测试仪 型号:MCP-T370
四探针方案-一触式的各种材料的表面电阻率测量。
查找只需按下启动按钮，确认自动测量功能，可自动保持当前的测量值。
电池寿命可以采用镍氢电池组可以方便地替换。
新增探头校准模式。检查探头校准片（另售），以确认Roresuta AX测试值的准确性。
测量数据可以导出到USB存储器。
查找只需按下启动按钮，确认自动测量功能，可自动保持当前的测量值。
电池寿命可以采用镍氢电池组可以方便地替换。
新增探头校准模式。检查探头校准片（另售），以确认Roresuta AX测试值的准确性。
测量数据可以导出到USB存储器。
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规格
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测量方法
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四端四探针法
施加恒定电流的方法 |
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测量范围
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10 -2〜10 6 Ω
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标准配置
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四探针探头（ASP）AC适配器 说明书 检查确认书
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选项
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探头选项
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类型
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适用被测试样品
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型号
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ESP
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对于异类样本
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MCP - TP08P
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PSP
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小样本的薄膜
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MCP - TP06P
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QPP
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对于小样本
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MCP - TPQPP
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TFP
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有关硅晶片或玻璃基板薄膜
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MCP - TFP
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校准块
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型号：MCP - TRF1
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