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方块电阻测试仪 HAD-DB1

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详细介绍

电阻率/方块电阻测试仪 型号:HAD-DB1

本HAD-DB1方阻测试新产品为薄膜测试提供机械、电气两方面的保护,在宽广的量程范围内,使各种电子薄膜能得到准确、无损的方块电阻测量结果。

由于薄膜材料种类繁多,研制过程中样品性能变化较大,而且各种薄膜的机械强度,允许承受的电压、电流均不相同,因此HAD-DB1型测试仪可为用户量身定制各种特定探针压力及曲率半径的探针头,仪器的测试电流分7档,可由0.4μA增加到zui大为1000mA,测试电压可由8V增加到80V,测试电压和测试电流均可连续调节,给薄膜、涂层的研制者提供了一个摸索测试条件的宽阔空间。

由于仪器设有恒流源开关,并且所有电流档在探针与样品接触后均有电流延时接通的功能,充分保护了样品表面不会因为探针接触时产生的电火花而受到损坏。

HAD-DB1仪器性能

方阻测量范围:1×10-5~2×106Ω/□,zui小分辨率1×10-5Ω/□;

电阻率测量范围:1×10-6~2×105Ω·cm或1×10-8~2×103Ω·m,zui小分辨率1×10-6Ω·cm或1×10-8Ω·m;

探针压力:25g~250g;

探针曲率半径:25μm~450μm

(注:探针压力及曲率半径可根据薄膜材料性能及用户需求定制);

测试电流分7档:1μA、10μA、100μA、1mA、10 mA、100 mA、1000 mA;

测试电压:(1μA~10 mA档)12~80V连续可调

           (100mA档)    8~36V连续可调

          (1000mA档)    8~15V连续可调;

测量方式:手动或自动(配置专用测试软件);

测量对象:导电薄膜、半导体薄膜、电力电容器铝箔、各种金属箔、银浆涂层、锂电池隔膜等各种电子薄膜;各种半导体材料的电阻率。


 
 
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