电阻率/方块电阻测试仪 型号：HAD-DB1
本HAD-DB1方阻测试新产品为薄膜测试提供机械、电气两方面的保护，在宽广的量程范围内，使各种电子薄膜能得到准确、无损的方块电阻测量结果。
由于薄膜材料种类繁多，研制过程中样品性能变化较大，而且各种薄膜的机械强度，允许承受的电压、电流均不相同，因此HAD-DB1型测试仪可为用户量身定制各种特定探针压力及曲率半径的探针头，仪器的测试电流分7档，可由0.4μA增加到zui大为1000mA，测试电压可由8V增加到80V，测试电压和测试电流均可连续调节，给薄膜、涂层的研制者提供了一个摸索测试条件的宽阔空间。
由于仪器设有恒流源开关，并且所有电流档在探针与样品接触后均有电流延时接通的功能，充分保护了样品表面不会因为探针接触时产生的电火花而受到损坏。
HAD-DB1仪器性能
方阻测量范围：1×10-5～2×106Ω/□，zui小分辨率1×10-5Ω/□；
电阻率测量范围：1×10-6～2×105Ω·cm或1×10-8～2×103Ω·m，zui小分辨率1×10-6Ω·cm或1×10-8Ω·m；
探针压力：25g～250g；
探针曲率半径：25μm～450μm
（注：探针压力及曲率半径可根据薄膜材料性能及用户需求定制）；
测试电流分7档：1μA、10μA、100μA、1mA、10 mA、100 mA、1000 mA；
测试电压：（1μA～10 mA档）12～80V连续可调
（100mA档） 8～36V连续可调
（1000mA档） 8～15V连续可调；
测量方式：手动或自动（配置专用测试软件）；
测量对象：导电薄膜、半导体薄膜、电力电容器铝箔、各种金属箔、银浆涂层、锂电池隔膜等各种电子薄膜；各种半导体材料的电阻率。
