显微熔点仪 熔点仪 型号：DP-SGW X-4
特点：
测定物质的熔点。主要用于药物、化工、纺织、染料、香料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻法（热台片法）测定。
主要参数：
熔点测量范围：室温至320℃
测量重复性：±1℃ （在＜200℃ 时）
±2℃（在20 .0℃ 一320℃ 时）
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X-4 |
X-4A |
X-4B |
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温度显示zui小值 |
1℃ |
0.1℃ |
0.1℃ |
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熔点观察方式 |
单目显微镜 |
单目显微镜 |
双目体视显微镜 |
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光学放大倍数 |
40× |
40× |
40×-100×连续变倍 |
