当前位置: 首页 » 资料 » 其它资料

低阻抗分析仪/表面阻抗测试仪

图片文件
  • 文件类型:图片文件
  • 文件大小:3.13K
  • 更新日期:2017-02-16 16:07
  • 浏览次数:163   下载次数:333
进入下载
详细介绍
 

低阻抗分析仪/表面阻抗测试仪 型号:MCP-T370

四探针方案-一触式的各种材料的表面电阻率测量。
查找只需按下启动按钮,确认自动测量功能,可自动保持当前的测量值。
电池寿命可以采用镍氢电池组可以方便地替换。
新增探头校准模式。检查探头校准片(另售),以确认Roresuta AX测试值的准确性。
测量数据可以导出到USB存储器。

规格
测量方法 四端四探针法
施加恒定电流的方法
测量范围 10 -2〜10 6 Ω
标准配置 四探针探头(ASP)AC适配器 说明书 检查确认书
选项
探头选项
类型 适用被测试样品 型号
ESP 对于异类样本 MCP - TP08P
PSP 小样本的薄膜 MCP - TP06P
QPP 对于小样本 MCP - TPQPP
TFP 有关硅晶片或玻璃基板薄膜 MCP - TFP
校准块 型号:MCP - TRF1
 
 
[ 资料搜索 ]  [ ]  [ 告诉好友 ]  [ 打印本文 ]  [ 关闭窗口 ]  [ 返回顶部 ]

下载地址
 
  • 会员指数:
  • 企业认证:       
  • 联系人:李冉(女士) 销售部经理     
  • 地区:北京
推荐资料
本类下载排行
总下载排行