日本日置 C测试仪 3506-10对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试● 模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量● 提高了抗干扰性,在产线的上也能实现高反复精度● 1kHz、1MHz测量下,低电容的贴片时可稳定测量● 根据BIN的测定区分容量
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[广东深圳市] 深圳市乐买宜电子有限公司 [已核实]
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1. Note book USB-Type C tester 2.Mobile USB-Type C tester
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高速测量2ms,能根据C 和D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断,对应测试线,比较器功能/触发输出功能。日本日置 3504-40 C测试仪价格
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