SurfaceSeer I 飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS

KoreSurfaceSeerI是一款高灵敏度的飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS，用于绝缘、导电表面的成像分析与化学成分分析。SurfaceSeerI是研究表面化学的理想选择，适用于研发和工业质量控制应用。

那诺中国有限公司是一家高科技技术服务公司，专注于为大中华区域（包括中国大陆、香港、澳门和台湾）的高校、科研院所、企业研发与生产提供基于飞行时间质谱仪的高性能科学仪器。 我们可以提供高性价比的定制化仪器 ，因为我们能够重复使用现有的设计模块，这些来源于我们庞大的、 有据可查的后台目录 中。这些预先存在的机械信息，结合所需要的任何一次性工程，使我们能够根据客户的具体要求生产出价格合理的仪器。 我们的飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS），不仅适用于实验室实验，也适用于现场实时分析。我们的仪器在环境科学、工业和生产、生物科学、材料科学、半导体、电子等行业都有广泛的应用。

Kore SurfaceSeer I是一款高灵敏度的飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS，具有高通量分析功能，可用于绝缘、导电表面的成像分析与化学成分分析。SurfaceSeer I 是研究表面化学的理想选择，适用于 研发和工业质量控制应用。

飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS是非常灵敏的表面分析手段。其凭借质谱分析、二维成像分析、深度元素分析等功能，广泛应用于医学、细胞学、地质矿物学、半导体、微电子、物理学、材料化学、纳米科学、矿物学、生命科学等领域。

Kore SurfaceSeer I 是一款高灵敏度飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS，用于绝缘和导电材料表面的成像和化学测绘。该仪器是研究表面化学的理想工具，在研发或工业质量控制应用中同样适用。 SurfaceSeer I 使用与 SurfaceSeeer S 相同的 TOF-MS 技术，但配备了高亮度、高空 间分辨率的 25kV 液态金属离子枪（LMIG）作为主要离子源。LMIG 的探头尺寸≤ 0.5µm，可实现高分析空间分辨率。全自动计算机控制，允许在质谱采集期间扫描离子枪，从而可以收集到化学图像或图谱。另外还提供了一个二次电子探测器（SED），用 于调谐初级电子束和 SED 图像捕获。

带有12.7µm重复单元的铜格栅

SurfaceSeer I 仪器特点：

• 配备25KV液态金属离子枪（LMIG）作为主要离子源，检测能力更强，质量分辨率更高；

• 具备表面成像和深度剖析功能；

• 提供的SIMS材料谱库包含上千种材料的质谱数据，可识别未知的化合物和材料；

• 可同时分析所有元素及有机物，可消除有机物和元素干扰，使谱图更清晰，检测限更低，能更有效地分析材料样品。

• 专用数据处理软件允许分析数据和样品的化学构成信息进行全面的交互提取，其所有储存的数据都能用于溯源性分析。

• 表面分析灵敏度高达 1x10⁹ atoms/cm²

SurfaceSeer I 应用领域:

• 表面涂层和处理

• 电子元件和半导体

• 电极与传感器

• 润滑剂

• 催化剂

• 粘合剂

• 薄膜等包装材料

• 腐蚀研究

• 大学教学与科研

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