产品简介
HAST偏压老化测试系统，B-HAST高加速寿命偏压老化测试系统适用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验，使用于在产品的设计阶段，用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的密封性和老化性能。
公司简介
成都中冷低温科技有限公司是一家创新型高科技企业，拥有一支专业知识扎实、实战经验丰富的年轻团队，主要成员来至于国内外知名学府或科研院所。公司专注于低温领域，提供常温到-200℃的全套温度解决方案，主要生产工业冷水机组、低温制冷机、深冷水汽捕集泵、高低温循环测试机、太空模拟仓，产品应用于化工、石油、生物、制药、真空镀膜、电子通讯、电池包测试、集成电路等领域。
展开
产品说明
HAST偏压老化测试系统
B-HAST高加速寿命偏压老化测试系统适用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验，使用于在产品的设计阶段，用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的密封性和老化性能。
HAST偏压老化测试系统
B-HAST高加速寿命偏压老化测试系统是将被测元件放置于一定的环境温度中,（环境温度依据被测元件规格设定）给被测元件施加一定的偏置电压。同时控制系统实时检测每个材料的漏电流，电压，并根据预先设定，
当被测材料实时漏电流超出设定时，自动切断被测材料的电压，可以保护被测元件不被进一步烧毁。
HAST偏压老化测试系统
B-HAST高加速寿命偏压老化测试系统是将被测元件放置于一定的环境温 度中,（环境温度依据被测元件规格设定）给被测元件施加一定的偏置电 压。同时控制系统实时检测每个材料的漏电流，电压，并根据预先设定， 当被测材料实时漏电流超出设定时，自动切断被测材料的电压，可以保护 被测元件不被进一步烧毁。
HAST偏压老化测试系统
应用于二极管，三极管，MOSFET，IGBT，SBD，GaN Fet, SCR以及各种封装 形式的射频场效应管、射频功率器件进行温湿度下反偏试验 。
本页产品地址：http://www.geilan.com/sell/show-9537161.html
免责声明：以上所展示的[
B-HAST HAST偏压老化测试系统]信息由会员[
成都中冷低温科技有限公司]自行提供，内容的真实性、准确性和合法性由发布会员负责。
[给览网]对此不承担任何责任。
友情提醒：为规避购买风险，建议您在购买相关产品前务必确认供应商资质及产品质量！
