SuperView W1 三维形貌测试仪

中图仪器提供SuperView W1三维形貌测试仪让轮廓测量价格更为实惠，适用于各种产品、部件和材料表面的孔隙间隙、台阶高度、平面度、粗糙度、表面缺陷、波纹度、面形轮廓、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。

深圳市中图仪器股份有限公司成立于2005年，致力于全尺寸链测量仪器及设备的研发、生产和销售。

中图仪器坚持以技术创新为发展基础，拥有一支集光、机、电、信息技术于一体的技术团队，历经20年的技术积累和发展实践，研发出了基础计量仪器、常规尺寸光学测量仪器、微观尺寸光学测量仪器、大尺寸光学测量仪器、常规尺寸接触式测量仪器、微观尺寸接触式测量仪器、行业应用检测设备等全尺寸链仪器及设备，能为客户提供从纳米到百米的测量解决方案。
中图仪器的销售和服务网点遍及全国三十多个省、市、自治区，产品远销欧、美、东南亚等海外市场，坚持为客户提供高质量的产品和服务。
中图仪器还将继续专注于测量检测技术的发展，自强不息、知难而上、勇于创新，为中国制造技术的快速发展贡献力量！

中图仪器研发生产的SuperView W1三维形貌测试仪，分辨率0.1μm，重复性0.1%，应用领域广泛，操作简便，可自动聚焦测量工件获取2D，3D表面粗糙度、轮廓等一百余项参数，广泛应用于如纳米材料、航空航天、半导体等各类精密工件表面质量高要求的领域中。


产品参数

工作原理
三维形貌测试仪光源发出的光经过扩束准直后经分光棱镜后分成两束，一束经被测表面反射回来，另外一束光经参考镜反射，两束反射光最终汇聚并发生干涉，显微镜将被测表面的形貌特征转化为干涉条纹信号，通过测量干涉条纹的变化来测量表面三维形貌。


在生产中，微观上的表面形貌对工程零件的许多技术性能的评价具有直接的影响，为了能反映零件表面的特征以及衡量表面的质量，表面三维微观形貌的测量就越来越重要。三维形貌测试仪是利用白光干涉扫描技术为基础，用于样品表面微观形貌检测的精密仪器。可以达到纳米级的检测精度，并快速获得被测工件表面三维形貌和数据。
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