SURAGUS EddyCus TF map 2525 SURAGUS 薄膜面阻测试仪

SURAGUS 薄膜面阻测试仪是一款适合实验室研发或成品检测使用的薄膜面电阻（方块电阻）及薄膜厚度测量的仪器。

北京锐峰先科技术有限公司是一家致力于为中国广大客户提供先进的半导体设备、SMT设备、LCD设备、易耗品、元器件和完善售后服务的供应商。公司代理一些全球著名的相关产品；拥有一批经验丰富的销售和技术服务团队，并在北京，上海，深圳，西安等地，均有办事处为客户提供一系列的产品及技术服务。


公司一贯坚持：

“yi流的产品；yi流的服务；yi流的合作关系”的经营理念；
“顾客满意，共同发展”的经营目标；
“至诚至信，至新至美”的公司精神；
“团队合作，以人为本”的核心价值。

通过长期的不懈努力，我们已与很多重要客户：如一些全球著名半导体芯片制造商像因特尔，三星，富士康，Stataschippac，Bosch，ST，华为，比亚迪等等，以及国内一些重大研究院校等等都建立了长期合作的关系。公司将继续按照市场经济的规则要求，不断地发展和扩大。真诚地希望为广大客户提供更多、更好的服务；与更多的供应厂商建立更为广泛和紧密的合作关系,共同为业界的繁荣与发展作出贡献.

SURAGUS 薄膜面阻测试仪
SURAGUS EddyCus TF map 2525 薄膜面电阻和厚度测试仪
薄膜电阻测试仪  方阻测试仪  薄膜面阻测试仪


TF lab系列产品是一款适合实验室研发或成品检测使用的薄膜面电阻（方块电阻）及薄膜厚度测量的仪器。

特点

非接触成像
高解析度成像（25 至1,000,000 点）
缺陷成像
封装层的地图


参数
 
面电阻（方块电阻）（欧姆/平方）
金属层厚度（nm、μm）
金属基板厚度（nm、μm）
各向异性
缺陷
完整性评定

应用

建筑玻璃（LowE）
触摸屏和平板显示器
OLED和LED应用
智能玻璃的应用
透明防静电铝箔
光伏
半导体
除冰和加热应用
电池和燃料电池
包装材料
 
材料

金属薄膜和栅格
导电氧化物
纳米线膜
石墨烯、CNT（碳纳米管）、石墨
打印薄膜
导电聚合物（PEDOT:PSS）
其他导电薄膜及材料

规格参数

测量技术：非接触式涡流传感器
基板：例如：箔片、玻璃、晶圆，等等
大扫描面积：10 inch / 254 x 254 mm（根据要求可以更大）
边缘效应修正/排除：对于标准尺寸，排除2 mm的边缘
大样品厚度/传感器间隙：2 / 5 / 10 / 25 mm（由厚的样本确定）

面电阻（方块电阻）的范围：
低       0.0001 - 10 Ohm / sq; 2 至 8 % 精度
标准    1 - 1,000 Ohm / sq; 2 至 8 % 精度
高       10 - 10,000 Ohm / sq; 4 至 8 % 精度

金属膜的厚度测量（例如：铝、铜）：2 nm - 2 mm (与薄膜电阻一致)
扫描间距：1 / 2 / 5 / 10 mm （根据要求的其它尺寸）

每单位时间内测量点（二次形）：
5分钟内10,000个测量点
30分钟内1,000,000 个测量点

扫描时间：
4 inch / 100 x 100 mm，在0.5至5分钟内（1-10mm 间距）
8 inch / 200 x 200 mm，在1.5至15分钟内（1-10mm 间距）

装置尺寸（宽/厚/深）：549 x 236 x 786(836) mm  /  23.6 x 9.05 x 31.5 inch
重量： 27 kg

可用特色：
薄膜面阻成像
各向异性电阻传感器
 


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