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Xeuss 3.0 C Xenocs赛诺普苏州小角X射线散射仪

赛诺普(苏州)科学仪器有限公司
会员指数: 企业认证:

价格:电议

所在地:江苏 苏州市

型号:Xeuss 3.0 C

更新时间:2023-09-01

浏览次数:1277

公司地址:江苏省苏州市相城区青龙港路58号天成时代商务广场2802室

郭(女士)  

产品简介

小角X射线散射仪Xeuss 3.0是实验室的全自动SAXS/WAXS/USAXS散射线站作为实验室线站的新一代产品,其测试能力里,产品性能及测试效率都提升到了一个新的层次。

公司简介

Xenocs China,是法国Xenocs SAS公司于2019年在中国直接设立的全资子公司。其业务范围覆盖法国Xenocs SAS公司旗下全部专业小角X射线散射产品及软件在中国地区包含销售、技术支持、售后服务等全部业务。2023年,赛诺普(苏州)科学仪器有限公司成立,将在亚太地区以及印度地区开展销售、应用与技术支持、售后服务等全部业务。

Xenocs China自成立以来,一直秉承法国Xenocs SAS所奉行“用户至上”的服务理念和精神,将致力于为中国用户提供全方位、专业化、实时且周到的至诚服务,为纳米材料的表征提供针对性的解决方案视为己任,满足您的多样化需求。


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产品说明

请前往赛诺普官网了解更多信息
小角X射线散射仪Xeuss3.0主要优点&特点:

1、更高的灵活性
为广大用户群体提供全远程自动操作的、具备表征纳米尺度范围的独特工具。
纳米材料的发展和设计需要在纳米尺度范围上进行表征。
Xeuss 3.0具备这样的测试能力,通过完全自动改变配置,采集的散射矢量q可跨越5个数量级。
因此,对于给定的单个或批量样品,任何经过培训的用户都可以在完整的测量范围内远程操作系统。
可自动更改的测量设置包括:
- Q-Xoom通过探测器的自动平移来改变测量分辨率
- 使用Bonse Hart USAXS模块可以实现连续的SAXS/USAXS测量
- X光源能量可选,提供3个可选光源
- 用于原位SWAXS研究的可移动WAXS探测器

+ Q-Xoom在真空环境中移动探测器
Q-Xoom–享受全范围计算机控制的探测器行程的灵活性
- 特性:探测器在真空中沿光路自动移动1 ~ 4米(取决于所选型号)
- 虚拟探测器的探测面积大于200 x 200 mm2
- 在实验过程中,完全远程操作和实时数据显示(二维和一维),减少了停机时间,优化您的实验过程
- 将样品放在固定位置,为样品环境留出空间
- 在真空中用纯净光、无窗探测器测试或在空气中用X-Cones进行测试

+ 自动的Bonse-Hart USAXS模块
测量尺度可达4.5微米,并获取纳米尺度信息
- 内外移动的分析晶体可确保在同一个样品上USAXS和SAXS能够自动连续采集
- 高质量SAXS和USAXS数据合并
- 无需人工操作或仪器重置
- USAXS和SAXS/WAXS入射光在一条直线上,故无需移动样品

+ 多种光源
对任何种类样品(吸收,荧光,特征尺寸)的实验进行优化
- 在自动切换光源时仪器可自动校准光路
- 多达3个光源模块 (Cu, Mo, Cr)可以与Ga metalJet光源一起使用
- 不同光源的切换,确保不同波长对同一样品的连续测量

2、高性能
小角X射线散射仪Xeuss 3.0实验装置具备大的灵活性,用于测试各种样品并尽可能获取质量的数据。
尤其,以下关键特点使用户得以优化实验和结果:
- 高光通量设置和内置低背景无噪音探测器,适合快速动力学测试
- 提供大探测面积,并且探测器可从WAXS位置自动移动到远距离的SAXS位置,优化分辨率和信噪比
- 远距离的SAXS设置可测量大特征尺寸样品(> 300 nm)
- 可选的USAXS模块进行结构表征(> 4 µm)

+ 无beamstop数据采集
- 杜来自Beamstop边缘或探测器窗口膜的寄生散射,使低q处的散射信号不受干扰
- 在采集过程中同时记录直通光和样品散射信号,得到的透射强度,用于获取的强度校正
- 另外,采集的直通光信号将整合到数据分析软件(XSACT),提高解析结果的准确性

+ 纯净光技术
- 作为一个标准的解决方案,小角X射线散射仪Xeuss 3.0集成低维护成本的高性能微聚焦光源,亮度达到了之前高功率旋转阳靶光源才能实现的水平。
现在实验室中就可进行诸如动力学研究或稀释样品的纳米粒子形状分析的实验。另外,通过结合Xenocs公司的X射线光束和自动无散射准直系统实现高分辨率(光束Δq低),这对研究大特征尺寸的样品或进行准确中间相的分析都非常重要。
通过以下组合实现高光通量和高分辨率:
- 持久的高亮度微聚焦光源
- 具有高立体采集角的单次反射多层膜光学聚焦镜
- 样品和探测器上光束尺寸二维可控

为了保证X射线散射的测试质量,包括稀释的或对比度低的样品,Xeuss 3.0将10多年研发的高光通量和低噪音技术相结合。
主要集成功能包括:
- 从聚焦镜到探测器传感层的全真空系统
- 第三代无散射准直 (于2008年由Xenocs次引入市场)
- 真空中运行的无窗口探测器
- 混合像素光子计数探测器
- 背景自动扣除技术,减少环境寄生散射的影响

配备metalJet光源,用于非常快的动力学研究

+ Q-Xoom具有非常大的探测面积
Q-Xoom采用电脑控制探测器全程移动,自动调节样品到探测器距离,提供大的测试灵活性来优化实验。
虚拟探测器增强测试能力:
在任意的样品到探测器距离下,结合图谱重构技术,任何规格的探测器的采集面积都将大于200 mm2 x 200 mm2
探测面积有利于优化各向异性样品信号的方位角覆盖,还有利于高分辨率测试,例如在距离样品较远处用偏置的探测器采集到更大的散射矢量,以表征较小的尺度。

3、样品空间大
Xeuss 3.0的样品腔有利于固定实验过程中的样品,这是目前以至今后的理想的X射线散射平台仪器。
材料的研究和表征需要集成特定的或定制的样品环境。由于其的线站理念,Xeuss 3.0非常适用于这种新项目。
包括:
- 在测试过程中样品在大样品腔中保持固定(轴方向可持续观察样品,智能集成用户自定义样品环境)
- 样品台的长距离平移可用于空间分布扫描和批量测试
- 多种标准样品环境,并具备样品台识别功能


本页产品地址:http://www.geilan.com/sell/show-8914672.html
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