XRS-JH-WSP-8 半导体导电型号鉴别仪

半导体导电型号鉴别仪型号：XRS-JH-WSP-8

XRS-JH-WSP-8型半导体导电型号鉴别仪是为了鉴别硅单晶材料的导电类型“P”和“N”的测量仪器，是采用整流效应测量导电型号仪器，测量范围广。硅材料电阻率从10-2~104 Ω.cm，仪器采用美国16位单片集成电路计算机为核心，利用数字采集滤波技术，并用“P”“N”数码直接显示。采用了单片机技术可使测量的准确度和稳定性大幅度提高。仪器采用手持式三探针探头，使用简单，操作方便，且寿命长，适合半导体材料厂、器件厂和科研部门需要。

用作太阳能多晶材料分选时，采用整流法，对<0.1Ω.cm的材料具有声光报警功能，广泛应用于太阳能电池生产的原材料筛选环节，快速。

主要技术指标：

1. 测量范围：硅单晶材料电阻率10-1~104Ω.cm

2. 可测量材料：半导体硅棒和硅片，及硅碎颗粒。

可测半导体材料尺寸：Φ5~Φ150mm以上。

3. 显示方式：P、N灯显示。

4. 测试探头：手持式探针间距3mm 探针Φ1mm高速钢

5. 电源：220V 50HZ 20W