XRS-FD-OE-3 固体介质折射率测定仪

固体介质折射率测定仪 型号；XRS-FD-OE-3

折射率是反映介质光学性质的重要参数之一。本仪器采用的实验方法，在光学测量中具有典型性和基本要求的特点。用测布儒斯特角的方法测量透明介质的折射率及利用测量激光照射半导体薄片的反射系数方法，测量部分半导体如硅、砷化镓等介质的折射率。本仪器具有体积小，重量轻，调节方便，装置牢靠，实验数据稳定可靠等优点。本仪器可用于基础物理实验，设计性与研究性物理实验及物理奥林匹克竞赛培训实验用。本仪器具有以下优点：

  1.采用高强度优质铝合金材料制成，表面经阳氧化处理 ,仪器重量轻、体积小、耐用、不会生锈，使用寿命长。

  2.带有刻度的转盘经精心设计和加工，转动轻巧灵活，读数准确。

  3.采用数字式光功率计测量偏振光光强，测量结果稳定可靠。

  4.有黑色遮光罩挡光，可在明光及通风条件下做光学实验，在同一实验室各组实验互不干扰。

  应用本仪器可以完成以下实验：

  1. 光的偏振现象的观察和分析，加深对光偏振规律的认识。掌握获得线偏振光的知识及确定偏振片偏振方向的方法。

  2. 用布儒斯特定律，测量对可见光透明固体材料的折射率。

  3．通过测量偏振光二个分量入射到介质上反射光的反射系数，测量半导体硅等材料的折射率。

  仪器主要技术参数：

  1. 半导体激光器 波长650nm，功率 1.5-2.0mW，工作电压3V。

  2. 转盘 直径为2.0cm，可调范围0-360°，分度值1°。

  3．水平光学转台 可 0-360゜转动，分度值 1°。

  4．数字式光功率计 量程有200uW和2mW二档，三位半液晶显示。