JX2011 JX2011综合测试仪 硅材料电阻率测试，PN型测试

是否提供加工定制否类型半导体电阻率测量仪器 品牌晶翔型号JX2011 测量范围0.00001-10000Ohm*c

杭州晶翔电子科技有限公司注册于浙江省杭州高新技术开发区，主要设计、制造、销售半导体硅材料测试设备，公司和浙江大学信息电子技术研究所具有很好的合作关系，可根据用户需求定制产品。成立以来一直不断开发、生产新产品，目前已经有一系列的产品，其中主要产品：硅材料重掺分选仪、硅材料型号测试仪、硅材料电阻率测试仪、便携式硅材料型号及电阻率测试仪。其产品定位于太阳能单晶（多晶）生产厂家，为硅材料的分选、测试提供专业的解决方案！

是否提供加工定制	否	类型	半导体电阻率测量仪器
品牌	晶翔	型号	JX2011
测量范围	0.00001-10000Ohm*cm（MΩ）

一、产品特点

1．仪器采用220V交流电源供电。

2．检测硅半导体材料的电阻率和PN型号两项指标。

3．拥有很高的电阻率测试分辨率，zui小可到0.00001Ω﹡㎝。

4.宽范围自动测量,电阻率0.00001Ω﹡cm-10000Ω﹡cm

5．能的分辨电阻率在0.005Ω﹡cm-500Ω﹡cm的硅材料PN型号。

二、推荐工作条件

1．温度：23±2℃

2．湿度：60%~70%

3．无强光照、无强磁场、不与高频设备邻近

三、参数指标

1．整机尺寸：260mm×145mm×110mm

2．探头1：四探针

3．探头2：三探针

4．电阻率量程：0.00001~10000Ω﹡㎝；误差范围：±5%

5．P/N检测：硅材料电阻率满足0.005-500Ω﹡㎝

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