SS-JG-ST2258A 多功能数字式四探针测试仪

仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入；具有零位、满度自校功能；自动转换量程；测试探头采用宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针制成，故定位准确、游移率小、寿命长；测试结果由数字表头直接显示。

北京奥德盛世科技有限公司总部位于北京，其主要经营范围是环境、生物医学仪器仪表检测类、实验室监测设备、专用分析仪器类、无损检测类、计量校准精密仪器等等，是集产品设备的开发、制造和检测为一体的经营模式，并拥有完整、科学的质量管理体系。
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多功能数字式四探针测试仪/方块电阻检测仪/四探针电阻率仪型号： SS-JG-ST2258A

概述
  SS-JG-ST2258A型多功能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率，扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。
  本测试仪特赠设测试结果分类功能，大分类10类
  仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入；具有零位、满度自校功能；自动转换量程；测试探头采用宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针制成，故定位准确、游移率小、寿命长；测试结果由数字表头直接显示。
基本技术参数
1. 测量范围、分辨率
电    阻：     1.0×10-3 ～ 200.0×103  Ω,    分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×103  Ω
电 阻 率：     10.0×10-3 ～ 20.0×103 Ω-cm  分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×103  Ω-cm
方块电阻：     10.0×10-3 ～ 20.0×103 Ω/□  分辨率1.0×10-3 ～ 0.1×103  Ω/□ 
2. 可测半导体材料尺寸
直        径：  测试台直接测试方式 Φ15～130mm，其他方式不限.
长（或高）度：  测试台直接测试方式 H≤160mm,    其他方式不限.
3. 量程划分及误差等级
量程 200.0 20.00 2.000 200.0 20.00 2.000 200.0 
kΩ-cm/□ Ω-cm/□ mΩ-cm/□ 
误差 ±0.5%FSB±1LSB（在各量程范围内），超量程或欠量程可测量，但误差将随超欠程度而变大

4) 工作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W
5) 外形尺寸：W×H×L=20cm×7.5cm×18cm
净   重：≤1kg

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