METROTOM 德国蔡司zeiss三维 X 射线测量技术

德国蔡司zeiss三维 X 射线测量技术利用 ZEISS METROTOM 轻松完成测量任务基于 ZEISS METROTOM 的工业计算机断层扫描（CT）利用蔡司的工业计算机断层扫描系统，仅需一次 X 射线扫描，即可顺利完成工件的测量和检验。标准的验收检测、工程和完善的校准程序可确保系统的追踪性。配备线性导轨及转台，满足客户对精度的高要

藝橋科技（香港）有限公司(简称藝橋科技)，成立于2017年，是一家提供优质进口检测设备的供应商,拥有专业、出色的工程师团队，配备了完善的厂房仓库。客户群体集中在LED封装行业，业务主要包括LED LIGHTING BAR生产线检测解决方案、半导体行业DB&WB检测设备及解决方案、实验室相关检测设备、新能源检测、光学玻璃检查解决方案等。

2019年起，与TTVISION合作研发自动光学检测设备，在研发项目技术领域取得丰硕成果。同时公司战略性调整，开发客户以锂电池行业、半导体行业、高校与研究单位为主，半年间开发有广东气派、华灿光电、利亚德集团、德赛电池、蓝微科技等一批高质量客户。

公司拥有一批多年工作经验的工作者，富有进取心和敬业精神，不仅能为客户提供高质量的产品，并能为客户提供优质、高效的售后解决方案。以专业的服务和优良的品质，深受广大用户的好评。

香港藝橋现已经成为创维、TCL金能、TCL多媒体、华灿光电、利亚德、气派科技、瑞丰光电、国星光电、兆驰股份、冠捷科技、木林森股份、木林森电子、木林森光电（吉安、新余）、鸿利智汇、聚飞光电、穗晶光电、晶科电子、虹源光电、帝晶光电等多家企业的长期稳定供应商，且大部分为上市公司，业内享有良好的商业信誉。

德国蔡司zeiss三维 X 射线测量技术

型号：METROTOM

 

利用 ZEISS METROTOM 轻松完成测量任务

 

基于 ZEISS METROTOM 的工业计算机断层扫描（CT）
利用蔡司的工业计算机断层扫描系统，仅需一次 X 射线扫描，即可顺利完成工件的测量和检验。标准的验收检测、工程和完善的校准程序可确保系统的追踪性。配备线性导轨及转台，满足客户对精度的高要求。

 

 

测量与检验整体部件

ZEISS METROTOM 是一种用于测量和检验塑料或轻金属部件的工业计算机断层扫描测量系统。而在利用传统测量机测量时，此类隐藏性的结构信息只有将零件通过费时的层层破坏方能获得。

 

轻松且地进行多样化特征检测

利用 ZEISS METROTOM 计算机断层扫描系统可一次扫描海量的零部件特征。这些测量结果非常，且具可追溯性。和接触式测量方法不同，ZEISS METROTOM 获取海量测量点时，时间显著缩短。

 

直观简易的软件操作

仅需通过短时间的 ZEISS METROTOM OS 软件培训课程，操作人员即可对零件进行扫描，透视零件的内部。利用 ZEISS CALYPSO 可评估 CT 数据，再利用 ZEISS PiWeb 即可快速地将两者融合于同一份测量报告中。

德国蔡司zeiss三维 X 射线测量技术
德国蔡司zeiss三维 X 射线测量技术
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