AV-40G型 微波介质材料电磁特性参数测试系统

微波介质材料目前已经广泛应用于航空航天、微波通信、隐身技术、微波通信、卫星通信、、电子对抗、雷达导航、遥感、遥测等系统生物医学、 电磁兼容等各领域在研发、生产和使用微波介质材料时都需要测试其电磁特性参数，AV-40G型微波介质材料电磁特性参数测试系统是一款设计采用传输反射法进行宽频带扫频测量，主要设备包括

北京精科智创科技发展有限公司是一家主要是从事精密仪器设备，我们同中国科学院，北京科技大学，清华大学，上海交通大学，北京航空航天大学等建立了合作和研究中心，目前我们主要在安全控制设备，计量检测设备，科学材料研究设备，3D打印及空间技术的研发和销售，我们将同国内的科研机构和高等院校进行更加广泛的合作，服务于国内和国外广大客户，我们将提供优质产品，优质服务，共同开拓进取。

我们为你提供材料表征测量的一系列产品：

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一表征：压电材料d33测量仪
1、ZJ-3型压电测量仪

2、ZJ-4型d33测量仪

3、ZJ-5型积层压电测试仪

4、ZJ-6型静压电d33/d31/d15测量仪

5、ZJ-7型高温压电测试仪

★压电极化装置

1、PZT-JH10/4压电极化装置（10KV以下压电陶瓷同时极化1-4片）

2、PZT-JH10/8压电极化装置（10KV以下压电陶瓷同时极化1-8片）

3、PZT-JH20/8高压电极化装置（20KV以下压电陶瓷同时极化1-8片）

4、PZT-FJH20  /3高压真空，空气极化装置（20KV以下压电陶瓷及压电薄膜1-3片试样）

★ 压电制样装置

1、ZJ-D33-YP15压电陶瓷压片机（压力范围: 0--15T，0-24T，0-30T，0-40T2

2、ZJ-D33-SYP30电动型压电陶瓷压片机（压力范围: 0--15T，0-24T，0-30T，0-40T）

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第二表征 铁电材料测量系统及电滞回线测量系统

1、ZT-4C型综合铁电测量系统

2、JKZT-10A铁电材料综合参数测试仪

3、JKGT-G300高温铁电材料测量系统

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第三表征 热电材料分析测量系统及塞贝克系数测试仪

1、BKTEM-Dx热电性能分析系统

2、BKTEM-Dx热电器件性能分析系统

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第四表征 介电材料测试系统

1、 常温介电测量系统，常温介电材料测试仪

2、 高温介电测量系统，高温介电材料测试装置

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第四表征磁性材料测试系统

AV-40G型ink?url=9B0MJx6oRTH9Xvpt_on-PKrRgY3SL9qypKEN81VjZkMxGfpwF0HEpMndK178SJ3O1phnuxhkcd4eYyCg9hYXd_" target="_blank">微波介质材料电磁特性参数测试系统

关键词：微波，介质材料电磁，磁导率，电、磁损耗角正切 ，同轴空气

一、产品介绍：

微波介质材料目前已经广泛应用于航空航天、微波通信、隐身技术、微波通信、卫星通信、电子对抗、雷达导航、遥感、遥测等系统生物医学、 电磁兼容等各领域在研发、生产和使用微波介质材料时都需要测试其电磁特性参数，AV-40G型ink?url=9B0MJx6oRTH9Xvpt_on-PKrRgY3SL9qypKEN81VjZkMxGfpwF0HEpMndK178SJ3O1phnuxhkcd4eYyCg9hYXd_" target="_blank">微波介质材料电磁特性参数测试系统是一款设计采用传输反射法进行宽频带扫频测量，主要设备包括矢量网络分析仪、测试电缆、测试夹具和自动测量软件，系统用于测量固体介质材料的介电常数、磁导率，以及电、磁损耗角正切等性能参数。AV-40G型ink?url=9B0MJx6oRTH9Xvpt_on-PKrRgY3SL9qypKEN81VjZkMxGfpwF0HEpMndK178SJ3O1phnuxhkcd4eYyCg9hYXd_" target="_blank">微波介质材料电磁特性参数测试系统目前在各大高等院校和科研院所中广泛使用。

二、产品主要应用方面：

1、航空航天、微波通信、卫星通信、

2、隐身技术、电子对抗、导航、

3、遥感、遥测等

4、统生物医学、 电磁兼容

三、产品主要特点：

1、测量功能: 可快速、地测量被测件S参数的幅度、相位和群延迟特性，并根据误差模型修正测量结果；

2、相位修正功能: 反射系数和传输系数计算材料的复介电常数、复磁导率，及电、磁损耗角正切等性能参数；

3、电磁参数显示功能; 二维坐标系显示复介电常数、复磁导率，及电、磁损耗角正切等参数；

四、主要技术:

工作频率范围: 0.5GHz～40GHz

主机频率分辨率: 1Hz

主机频率准确度: ±1ppm（23ºC±3 ºC）

具体测量方式：同轴空气N测量或Ku波段波导腔测量可选

测量方式：传输反射法

测量点数: ≤1601

工作方式: 扫频测量

测量重复性: 优于±0.5Db

测量参数：介电常数实部、虚部，磁导率实部、虚部，电、磁损耗角正切

测量波段：S参数的幅度、相位和群延迟特性

相位修正：二端口网络端面与校准面关系

系统控制：计算机控制，1、2、5、10、15倍

 

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