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价格:电议
所在地:北京
型号:BKTEM-Dx
手机:18210063398
电话:010-60414386
更新时间:2024-09-18
浏览次数:3524
公司地址:北京顺义北小营
我们为你提供材料表征测量的一系列产品:
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一表征:压电材料d33测量仪
1、ZJ-3型压电测量仪
2、ZJ-4型d33测量仪
3、ZJ-5型积层压电测试仪
4、ZJ-6型静压电d33/d31/d15测量仪
5、ZJ-7型高温压电测试仪
★压电极化装置
1、PZT-JH10/4压电极化装置(10KV以下压电陶瓷同时极化1-4片)
2、PZT-JH10/8压电极化装置(10KV以下压电陶瓷同时极化1-8片)
3、PZT-JH20/8高压电极化装置(20KV以下压电陶瓷同时极化1-8片)
4、PZT-FJH20 /3高压真空,空气极化装置(20KV以下压电陶瓷及压电薄膜1-3片试样)
★ 压电制样装置
1、ZJ-D33-YP15压电陶瓷压片机(压力范围: 0--15T,0-24T,0-30T,0-40T2
2、ZJ-D33-SYP30电动型压电陶瓷压片机(压力范围: 0--15T,0-24T,0-30T,0-40T)
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第二表征 铁电材料测量系统及电滞回线测量系统
1、ZT-4C型综合铁电测量系统
2、JKZT-10A铁电材料综合参数测试仪
3、JKGT-G300高温铁电材料测量系统
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第三表征 热电材料分析测量系统及塞贝克系数测试仪
1、BKTEM-Dx热电性能分析系统
2、BKTEM-Dx热电器件性能分析系统
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第四表征 介电材料测试系统
1、 常温介电测量系统,常温介电材料测试仪
2、 高温介电测量系统,高温介电材料测试装置
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第四表征磁性材料测试系统
BKTEM-Dx热电材料性能测试仪,ink?url=UN3e5RD3rbIpDKa47MlvqL2ln8jhJ-lujVK-XPrQ1hcsBKqQrmov3FGHiJ9jrl_ZzYfwf0m-TprEJOsiAqm0aK&wd=&eqid=d07bcbc000027d06000000025937c067" target="_blank">热电材料塞贝克系数测试仪
关键词:热电材料,Seebeck系数,电导率, 电导率,V-1装置
产品介绍:
BKTEM-Dx热电材料性能测试仪是我国热电材料的领军设备,是材料计
划中前沿装备,是我国科研人员几十年的精心参与和设计出来的热电材料
测试仪,其测试性能远超越外热电材料测试仪,不仅可以用于块体材
料同时也可以用于薄材料的测试,是目前高等院校和材料研究所的重要设
备。
对于热电材料的研究,热电性能测试是不可或缺的试验数据。BKD-Dx(x=1,2,3)系列可以地测定半导体材料、金属材料及其他热电材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)及薄膜材料的Seebeck系数及电导率。主要原理和特点如下:
该装置由,高灵敏度温度可控的电阻炉和控制温度用的微型加热源构成。通过PID程序控温,采用四点法的方式测定半导体材料及热电材料的Seebeck系数及电导率、电阻率。试样与引线的接触是否正常V-1装置可以自动检出。
一、适用范围:
1、地测定半导体材料、金属材料及其他热电(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康铜、镍、钨等金属,Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系数及电导率、电阻率。
3、块体和薄膜材料测均可以测试。
4、试样与引线的接触是否正常V-1装置可以自动检出。
5、拥有自身分析软件,分析,过程自动控制,界面友好。
6、高等院校材料系研究或是热电材料生产单位。
7、汽车和燃油、能源利用效率、替代能源领域、热电制冷.
8、很多其他工业和研究领域-每年都会诞生新的应用领域.
二、技术特点:
·解决高温下温控精度不准的问题,静态法测量更加直观的了解产品热电材料的真正表征物理属性。
· 温度检测可采用J、K型热电偶,降低测试成本。
·试样采用独特的焊偶机构,保证接触电阻zui小以及测量结果的高重现性。
· 每次可测试1-3个样品.
· 采用数据采集技术,避免电路板数据采集技术带来的干扰误差,可控温场下同步测量赛贝克系数和电阻率。
三、主要技术参数:
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BKTEM-D1 |
BKTEM-D2 |
BKTEM-D3 |
测量温度 |
室温-600℃ |
室温-600℃ |
室温-600℃ |
同时测试样品数量 |
1个 |
2个 |
3个 |
控温精度 |
0.5K(温度波动:≤±0.1℃) |
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测量原理 |
塞贝克系数:静态直流电;电阻系数:四端法 |
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测量范围 |
塞贝克系数:0.5μV/K_25V/K;电阻系数:0.2Ohm-2.5KOhm |
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分辨率 |
塞贝克系数:10nV/K;电阻系数: 10nOhm |
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测量精度 |
塞贝克系数:<±6%;电阻系数:<±5% |
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样品尺寸 |
块体方条形:2-3×2-3 mm×10-23mm长,薄膜材料:≥50 nm |
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热电偶导距 |
≥6 mm |
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电 流 |
0 to 160 mA |
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气 氛 |
减压He |
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加热电相数/电压 |
单相,220V, |
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夹具接触热阻 |
≤0.05 m2K/W |
图1 单一样品测试系统原理示意图
图2 双样品测试系统原理示意图