45432 X射线正比计数器45432

X射线正比计数器45432有用在膜厚仪类似Fischer，菲希尔膜厚仪上使用的正比计数器，通用技术条件气体压力（乇）800工作温度范围°C - 40至75zui大长度（英寸/毫米）10.05 / 255.3有效直径（英寸/毫米）1.88 / 47.8路径长度（英寸/毫米）1.88 / 47.8有效长度（英寸/毫米）7.7 / 195.6

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