38DL PLUS 奥林巴斯Olympus超声波测厚仪

38DL PLUS超声波测厚仪 产品性能

• 可与双晶和单晶探头兼容。 
• 宽泛的厚度范围：0.08毫米～635毫米，根据材料和所选探头而定。 
• 使用双晶探头进行腐蚀测厚。 
• 穿透涂层和回波到回波测量功能，用于测量表面带有漆层和涂层的材料。 
• 内部氧化层/沉积物软件选项。 
• 对于所有探头，标准分辨率为0.01毫米。 
• 使用频率范围为2.25 MHz～30 MHz的单晶探头，高分辨率软件选项可进行分辨率为0.001毫米的厚度测量。 
• 多层软件选项可对多达4个不同层同时进行测量。 
• 高穿透软件选项用于测量纤维玻璃、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料。 
• 厚度、声速和渡越时间测量。 
• 差分模式和缩减率模式。 
• 时基B扫描模式；每次扫查可获得10000个可查读数。 
• 带有数字式过滤器的Olympus高动态增益技术。 
• 用于自定义V声程补偿的V声程创建功能。 
• 设计符合EN15317标准。

38DL PLUS超声波测厚仪 产品应用

对塑料、金属、复合材料、玻璃、橡胶及陶瓷材料进行厚度测量

用户使用单晶探头可以测量金属、塑料、复合材料、玻璃、陶瓷及其它材料的厚度。我们提供各种频率、直径和连接器类型的单晶探头。用户使用高分辨率软件选项可以进行分辨率为0.001毫米的其的厚度测量。

• 对于所有探头，标准分辨率为0.01毫米。

• 在使用频率范围为2.25 MHz到30 MHz的单晶探头时，高分辨率软件选项可显示分辨率高达0.001毫米的测量值。

• 高穿透软件选项用于测量纤维玻璃、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料。

• 多层软件选项可对多达4个不同层的厚度同时进行测量。

• 测量厚度、声速或渡越时间。

• 带有默认设置和自定义设置的自动调用应用简化了厚度测量操作。