HA/CIT-3000SM 能量色散X荧光分析仪

适用于矿山、选矿厂、冶炼厂、水泥等企业在过程中对产量进行监测；

1. HA/CIT-3000SM产品配置：

• 采用进口的美国AMPTEK航天的SI（PIN）半导体探测器系列
• 采用特数字脉冲采集电路及的电源管理
• 采用进口X光管
• 采用的X射线高压发生器
• 采用RS232串口通讯
• 采用的系统控制电路和数字处理电路
• 采用的分析算法软件模块V2.0A
• 配备电脑
• 配备常用的制样工具
• 配备的压片机
• 配备的测试样环
• 配备的测试硬标样

2.HA/CIT-3000SM 技术指标：

• 分析元素范围：Mg-U（主要是：Mg、Al、Si、P、S、Ca、Fe、Mn、Cu、Pb、Zn、Cr、Br、Cd）；
• 元素含量分析范围：1ppm -99.99%（采用1024道多道分析器，分析度高）；
• 采用美国航天的Si (PIN)半导体探测器计数，配合的数字脉冲处理；
• 测量范围：1－30KeV；
• 管压：0kV-30kV（激发源为 30KV-钨靶微型X射线管）；
• 管流：5μA-200μA；（可减少整机功耗和降低辐射）；
• 整机功率：50W；
• 整机能量分辨率：150±5eV；
• 检测时间： <200S；
• 工作环境温度：温度0-40℃；
• 工作环境相对湿度：≤99%（不结露）；
• 测量物质状态：固体、粉末均可检测，制样简单；
• 一体化，性能稳定，运行，高；操作简单，测量时间短；