200 VIEW Precis 200

美国QVI，好的光学影像测量仪 Precis 200是基于Micro-Metric的Innova晶圆量测系统开某发而来，采用了VMM 公司的设计和好技术。, 新款Precis 包含了很多可配置选项，使设备更加通用，耐某用以及可某靠。

东莞市天测光学设备有限公司（TianCe Optical Equipment Co.,LTD.）是一家专业从事测量仪器销售和服务的高新技术企业。公司坐落在中国制造业名城广东省东莞市.公司本着“诚信、专业、务实、创新”的经营理念，坚持“以质量求生存、以信誉求发展”为企业宗旨,为客户提供高质低价的产品和服务,获得珠三角客户广泛好评。
公司专业从事美国QVI产品、OGP影像测量仪，VIEW影像测量仪（中国区总代）、法国Keron 关节臂三坐标测量仪、等著名品牌测量仪器的销售、安装、维修、校正、保养、升级等服务。公司拥有完善的样品测试中心和方案评估实验室,可为客户提供完善的测量解决方案,公司附设200平米的机器展示中心,可为企业，学校及研究机构提供三维尺寸测量，三维激光扫描，测量仪应用培训等服务。

美国QVI，好的光学影像测量仪 Precis 200

新的Precis® 200是基于Micro-Metric的Innova晶圆量测系统开发而来，采用了VMM 公司的设计和技某术。
, 新款Precis 包含了很多可配置选项，使设备更加通用，耐某用以及可某靠。

• 扩展了Z轴范围 – 2.5mm, 5mm or 100mm
• 透射照明
• 完整电子绘图 – 完全符合 SEMI S2 和 CE 标准
• 符合人某体工程学的操作员控制台 ，带有隐藏键盘托盘, 可调节高度和角度的控制面板和显示器, SEMI S8 符合
• 全自动显微镜，所有设置计算机控制
• 分辨率像素摄像头
• VIEW Metrology Software (VMS™) 可测组件很广某泛, 可选CAD导入 以及完整的几何尺寸和公差导入。
• MMWin – 晶圆片 和Mask计量软件 –晶圆片的重要尺寸和迭置重合测量, 滑块 ABS,光掩模和平板显示器.
• 标准                        可选
• X,Y,Z行程(mm):        200 x 200 x 5              200 x 200 x 100
• zui大载重:                 12 kg
• XY精度:                    E1=(0.25+2L/1000)um
• Z 精度:                     E1=(0.25)um (with use of a 100 lens)
• 分辨率：                    0.01 微米
• 视场测量精度和重复性：0.01 μm (100)
• 直流伺服马达驱动
  
  

The all-new Precis® 200 incorporates the most advanced design and technology from VIEW-MM. based on the proven Innova wafer metrology system from Micro-Metric, the new Precis includes a number of configurable options that make the system more versatile, serviceable and reliable:

• Extended Z-axis range – 2.5mm, 5mm or 100mm
• Transmitted illumination
• Integral electronics drawer – fully compliant with SEMI S2 and CE standards
• Ergonomic operator control station with hide-away keyboard tray, adjustable height and angle for control panel and display monitor, SEMI S8 compliant
• Fully automated microscope with all settings computer controlled
• Megapixel camera for optimum resolution
• VIEW Metrology Software (VMS™) allows a wide range of components to be measured, with the option of CAD translation and full geometric dimensioning and tolerancing.
• MMWin – wafer and mask metrology software – ideal for critical dimension and overlay registration measurement for wafers, slider ABS, photomask and flat panel displays.
• Standard                        Optional
• X,Y,Z travel (mm):             200 x 200 x 5              200 x 200 x 100
• Max Recommanded load: 12 kg
• XY Linear Accuracy:           E1=(0.25+2L/1000)um
• Z Linear Accuracy:             E1=(0.25)um (with use of a 100 lens)
• Resolution：                     0.01 μm
• Field of measurement accuracy and repeatability ：0.01 μm (100)
• Dc servo motor drive

Precis 主要用于以下应用：
- 亚微米测量：
◆   微器件和电子元器件封装、引线框
◆   微型球状引脚栅格阵列封装
◆   硬盘驱动臂、探针卡、刀片
- CD 和套刻测量：
◆  线宽、涂覆层
◆   MEMS 器件、接触窗、喷墨打印头
◆   硬盘驱动头、磁头等
美国QVI，好的光学影像测量仪 Precis 200



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