| 提交询价信息 |
| 发布紧急求购 |
价格：电议
所在地：北京
型号：CDNY-03AM
更新时间：2019-07-01
浏览次数：1512
公司地址：北京通州区永顺翠福园8号楼
夏佳丽(女士) 经理
CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有强的抑制能力。
主要性能指标及技术指标
主信号通道：
信号输入方式：单端交流输入
输入量程：0.5mV-500mV
信号频率范围:1KHz±5%
本机频相噪声:≤4nV/Hz(折合到输入端)
性误差: ≤0.1%
零点时源： ≤0.2%/h
参考信号通道：
信号输入方式：单端交流输入
输入幅度：20-700mV
频率范围:≥320。
免责声明：以上所展示的[CDNY-03AM 光学膜层厚度测量控制仪]信息由会员[北京金时速仪器设备经营部 ]自行提供，内容的真实性、准确性和合法性由发布会员负责。
