Langer E1 langer E1 抗干扰开发系统

langer E1 抗干扰开发系统能对被测物施加突发干扰，再现被测物出现故障的现象；能采用不同的方式，向电子模块直接注入突发性的电场干扰或磁场干扰，从而定位电路板上的电磁薄弱点，理解耦合机理，并完成优化的设计修改。

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主要业务项目有：通用仪表（示波器、万用表等），功率分析仪，EMC电磁兼容测试仪，安规测试仪，声学检测仪器，光伏逆变器测试解决方案，LED驱动电源测试解决方案，机械电子测量解决方案等。


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langer E1  抗干扰开发系统   



langer E1  抗干扰开发系统
能对被测物施加突发干扰，再现被测物出现故障的现象；能采用不同的方式，向电子模块直接注入突发性的电场干扰或磁场干扰，从而定位电路板上的电磁薄弱点，理解耦合机理，并完成优化的设计修改。帮助工程师排除ESD和EFT问题

langer E1 抗干扰开发系统  

E1抗干扰性开发系统是一套集成电路板开发过程中进行抗干扰分析的 EMC工具系统。采用E1抗干扰开发系统，能够快速精准地定位脉冲群干扰和静电放电干扰的原因（薄弱点），使工程师开发人员能够准确针对薄弱点设计恰当的 EMC措施，并且使用 E1 评估 EMC措施的效果。E1 检测设备的搭建空间小，适宜于在电子元件开发人员的工作场地使用。E1 用户手册对EMC工作机制以及集成电路板去干扰的基本测量策略作出详细描述。E1 组套包括一个脉冲群干扰和静电放电干扰发生器、九种不同的电场和磁场源、以及其他各类附件。

langer E1 抗干扰开发系统  
包含SGZ21突发脉冲发生器，SGZ21能产生连续的类似于Burst或者ESD的干扰脉冲，脉冲的上升沿时间为2ns，下降沿时间为约10ns。这些脉冲包含的能量比2/50ns的Burst脉冲【根据EN 61000-4-4】或ESD【根据EN 61000-4-2】脉冲小，因此能在不损坏被测设备的情况下，把干扰直接耦合到电子模块内。由于SGZ21产生的脉冲，上升沿时间短，峰值电压也比较低，所以这些干扰对被测设备的影响，是和EN 61000-4-4的Burst脉冲的影响类似的。

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