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价格：电议
所在地：北京
型号：RHA-TES-1305
更新时间：2017-12-12
浏览次数：1074
公司地址：北京市门头沟石龙经济开发区永安路20号石龙高科大厦
李冉(女士) 业务员
温度计(RS-232) 型号；RHA-TES-1305
| 显示器 | 4 1/2位液晶显示 |
| 测量范围 | Type K: -200～1333℃ (-328～2431℉) Type J : -200～760℃ (-328～1400℉) Type E: -200～705.3℃ (-328～1301℉) Type T: -200～400℃ (-328～752℉) |
| 准确度 | Type K: ±(0.01%rdg+0.5℃) (0～1333℃/32～2431℉) Type J : ±(0.01%rdg+0.5℃) (0～760℃/32～1400℉) Type E: ±(0.01%rdg+0.5℃) (0～705.3℃/32～1301℉) Type T: ±(0.01%rdg+0.5℃) (0～400℃/32～752℉) Type K/J/E/T: ±(0.5%rdg+1.4℃) (-200～0℃/-328～32℉) |
| 分辨率 | 0.1℃ / 0.2℉ |
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输入保护
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60VDC/24Vrms |
| 取样率 | 1sec / 1time |
| 电源 | 6pcs size AAA Alkaline Battery |
| 电池寿命 | about 50 hours not including printer |
| 尺寸 | 193(L)×74(W)×37(H)mm |
| 重量 | 约 365g (含电池) -1304 约 300g (含电池) -1305 |
| 附件 | 收藏盒﹑使用说明书,电池﹑2卷印表纸(1304)﹑ 窗口软件(1305),RS-232 Cable(1305)﹑9 pin to 25pin转换头. |
母合金电阻率测试仪型号： RHA-JH-WSP-21
硅料分选检验综合仪是我公司一款专门为拉单晶厂和多晶铸锭厂商硅料分选、检验、检测而设计研发的。它可以快速准确测量硅料的电阻率。可以检测所有类型的硅料：母合金掺杂济电阻率检测可以到0.0001-199.99Ω﹡㎝，及各种碎片料、米粒料、片料，块料，头尾料、埚底料、边皮料等等。
产品特点：
■电阻率测量：大屏幕清晰显示硅料电阻率值，方便检料工快速分选
■ 电流测量：本仪器采用芯片技术，可通过调节硅材料厚度，仪器可直接锁定电流，使测量使用更加简便准确，本仪器可根据需要配备测试平台， 利用测试平台可以测试薄片电阻率
■ 四探针：一次测量，显示完整电阻率值。
■ 采用了独特的恒流源技术，能够满足宽范围的电阻率测试要求
推荐工作条件
■ 温度：23±2℃
■ 湿度：60%~70%
■ 无强磁场、不与高频设备邻近
技术指标:
■ 高阻电阻率量程：0.01~199.99Ω﹡㎝ 低阻电阻率量程：0.0001~1.9999Ω﹡㎝
■ 高阻测量精度：到十分位（即到小数点后一位）
低阻测量精度：到千分位（即到小数点后四位）
注：低阻一般用于测量低于0.1 0Ω﹡㎝以下硅料，如母合金，高于0.1 0Ω﹡㎝一般用高阻测量。
使用方法：
接好电源线，将仪器接上220V交流电，供电，若无电则需要检查或更换在仪器后面的电源插头处的保险丝，规格为1A,或检查电源线是否插好。
电阻率测量：
低阻测试：
1，面板高阻低阻切换拨动开关指向低阻方向，通过按动面板绿色按钮，使面板数显表小数点调到0.0000状态，测量时显示为电阻率值，
2，校厚：四探针针头压住待测样片，根据所测硅料厚度调动按钮至所要求厚度，
按键调动开关调动硅材料厚度，硅材料厚度小于3.98mm按实际厚度对照厚度调节按钮调节，如2.18就调到218，厚度大于3.98的都调到3。98，厚度调好后直接测试即可
高阻测试：
1，面板拨动开关指向高阻方向，面板数显表小数点调到000。00状态，不需按动绿色按钮。
2，校准设备：所测硅材料厚度小于3.98mm的对照标准电阻率电流修正系数表来调动仪器上方电流表，根据厚度所对应的电流系数来调节电流表，厚度大于3.98mm的电流统一调到0.6283即可。
测试四探针笔维护：
1一般情况下，更换钢针之类，不需要拆开探头，只需要用拔出要更换的钢针，再重新安装新针，如果断针在孔内并且不拆开难以取出，必须按照以下步骤进行操作：
A先松开笔身尾部端侧面的固定小螺丝，轻轻脱下尾部航空插口，保证探针头部旋转时同步旋转，防止扭线断线，短接，
B轻轻拧开探针头子，然后小心将铜片拉出，记住七片缘片与铜片之间的位置，（四片铜片每片见夹一片缘片，两边的铜片外侧各两片），将断针从铜片卡口座里取下即可，
C特别注意一定不能将铜片取下时的位置错乱，铜片位置按照航空头四芯1234接线绿红黄黑的顺序一字排列，并且铜片之间按照宽窄顺序互相交叉排列，以免短接。
D安装时铜片及缘片按照拆下时的排列轻轻塞进探针头子，并先将探针头子拧紧，再将尾部航空头插上，并且旋紧小螺丝，
E将针装好，注意针头针尾方向，尖头为探针头部
注意事项：
1仪器操作前请您仔细阅读使用说明书，规范操作。
2轻拿轻放，避免仪器震动，水平放置，垂直测量，
3仪器不使用时请切断电源，连接线无需经常拔下，避免灰尘进入航空插引起短接等现象，
4探针笔测试结束，套好护套，避免人为断针，
RHA-JH-WSP-6型半导体电阻率测试仪是专用于各种半导体材料包括:片状硅料、晶体、晶体等的电阻率测定的设备,测定范围:0.01-199.99欧姆厘米，是生产厂家硅料分选测试的理想工具。
1、 主要技术指标:
电源：220V交流
可测晶片直径（zui大）Ф100mm,方形230×220mm
恒流源：电流量程为0.01～1mA连续可调，误差≦±0.5%。
数字电压表：量程：0.1～200mV,zui大分辨率：100μV
电阻率显示：三位半数字显示：小数点、性、过载、自动显示0.01-199.99欧姆。厘米
输入抗阻：0.2mV和2mV量程：＞108Ω
测量精度：±0.1。
zui大电阻测量误差（按JJG508-87进行）：0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω≤±5%读数±2个字。
重掺检测误差（JJG508-87进行）：1Ω≤±1%、0.5Ω≤±0.5%、0.1Ω≤±0.1%
测量环境：温度23±2℃，相对湿度≤65%
2、操作程序：
1、先连好电源，打开后面板电源开关，电源指示灯亮，表示待机完毕。
2、校准设备：厚度小于3.98mm取与要备测试硅材料厚度相同的硅材料标准样块校准电阻率测试仪，测试厚度大于3.98mm的硅材料可取厚度大于3.98mm的任一标准样块校准电阻率测试仪
3、测试：用四探针接触硅材料，以探针压下三分之二为准，待仪器显示数字稳定即可，
4校验：在测试过程中要求2小时用标准样块校准一次设备，
3、 针组件;维护及注意事项:
1、一般情况下,除了信号传输线的断裂引起的故障外, 针的维护主要包括针头的更换和针头的清理清洁工作
2、维护后的安装及维护过程中,必须注意安装过程中的排线位置,按绿红黄黑（1234）位置排列。
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