RHA-FD-VSMG-A 材料磁性综合测量仪

材料磁性综合测量仪 型号；RHA-FD-VSMG-A

表面磁光克尔效应研究超薄膜磁性质，研究磁光存储的特性，开发的高密度磁光存储介质。可用于纳米技术、巨磁阻、磁电子器件等新磁性材料的研究。将具有磁致伸缩效应的铁磁材料晶体研制成新的合金材料，具有很高的居里温度特点 , 引发传统电子信息系统、传感系统、振动系统等领域产生变革。故对材料磁致伸缩性的研究也是外材料研究领域的又一个重点。振动样品磁强计应用于测量铁磁、反铁磁、抗磁等材料的磁特性，包括对稀土永磁材料、铁氧体材料、超导材料及生物蛋白质的磁性研究。古埃法磁天平用于磁学和磁化学研究，可测量顺磁和逆磁磁化率，磁流体的磁矩和磁化特性。

　　RHA-FD-SMOKE-B 型表面磁光克尔效应实验系统为基础，将表面磁光克尔效应、磁致伸缩效应、振动样品磁强计和磁天平四种测试手段融合在一个测量系统当中，共用同一台电磁铁，整合了信号处理系统。并且在磁致伸缩效应的测量上使用了独特的方式使得操作更为方便，灵敏度更高。

　　仪器主要技术参数：

• 实验平台 光学减振组合式实验台，台面尺寸 1600 × 1200mm ， M6 螺孔，孔距 25 × 25mm

• 电磁铁 磁间隙 0-50mm 连续可调

• 恒流电源 0-7. 连续可调

• 半导体激光器 波长 650nm ，输出功率 2mW

• 位移传感器测量精度 0.1um

• 磁化强度测量精度 10 -6 Am 2

四探针测试仪/四探针电阻率测试仪/四探针检测仪/单测四探针检测仪(不能接电脑） 型号：RHA-GSZ-RTS-4（SDY-4替代）

RHA-GSZ-RTS-4型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。
仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。
仪器采用了新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。
本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。
RHA-GSZ-RTS-4型四探针软件测试系统是一个运行在计算机上拥有友好测试界面的用户程序，通过此测试程序辅助使用户简便地进行各项测试及获得测试数据并对测试数据进行统计分析。
测试程序控制四探针测试仪进行测量并采集测试数据，把采集到的数据在计算机中加以分析，然后把测试数据以表格，图形直观地记录、显示出来。用户可对采集到的数据在电脑中保存或者打印以备日后参考和查看，还可以把采集到的数据输出到Excel中，让用户对数据进行各种数据分析
技术参数：

标准手提击实仪/手提击实仪/标准击实仪/标准手提击实器 型号：RHA-NT-JDS-3

RHA-NT-JDS-3型标准手提击实仪用于测定土的密度和含水量的关系，从而确定zui大干密度与相应的含水量。仪器轻重型兼用， 锤重可更换从2.5Kg到4.5Kg。锤重和落高可调以适合不同的测试要求。
技术参数：

1. 击锤: 2.5kg, 4.5kg
2. 击锤落高: 两种落高可选: 305mm 或 457mm
3. 试件模: Ø102 x 116mm, Ø152 x 116mm
4. 仪器尺寸: 270 x 270 x 850mm (L x W x H)
5. 仪器重量: 14kg